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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
摘要：本申请涉及一种标准单元尺寸调整方法、装置和计算机设备。所述方法包括：获取标准单元的原始版图、原始版图的多晶硅层中多个多晶硅的原始尺寸以及目标调整尺寸；根据预设的图层分类信息，确定原始版图中各图层的图层类别；将原始版图分割为至少两个第一分割区域；根据原始尺寸、目标调整尺寸，以及图形所处的第一分割区域，分图层类别对各图层的图形进行尺寸调整；将尺寸调整后的各图层类别中的各图层进行合并，得到标准单元的目标版图。采用本申请的方法进行标准单元尺寸调整能够提高调整效率和准确率，并且具有可复用性。
主权项：1.一种标准单元尺寸调整方法，其特征在于，所述方法包括：获取标准单元的原始版图、多晶硅层中多晶硅的原始尺寸以及目标调整尺寸；根据预设的图层分类信息，确定所述原始版图中各图层的图层类别；将所述原始版图分割为至少两个第一分割区域；根据所述原始尺寸、所述目标调整尺寸，以及图形所处的第一分割区域，分图层类别对所述各图层的图形进行尺寸调整；将尺寸调整后的各图层进行合并，得到标准单元的目标版图；所述根据所述原始尺寸、所述目标调整尺寸，以及图形所处的第一分割区域，分图层类别对所述各图层的图形进行尺寸调整包括：分图层类别确定所述各图层中要进行尺寸调整的图形的竖边，并对所述竖边进行移动处理；所述移动处理包括：根据多晶硅层多晶硅的原始尺寸和目标调整尺寸，基于所述竖边所属的图层和位置信息，确定平移长度；基于所述平移长度，将所述竖边向左平移或向右平移。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 标准单元尺寸调整方法、装置和计算机设备
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