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申请/专利权人:哈尔滨工业大学(深圳)
摘要:本发明适用于检测探伤领域,提供了一种传感器自检及自适应调整方法及系统,包括以下步骤:步骤S10:初步计算;步骤S20:安装传感器;步骤S30:采集无损伤信号;步骤S40:判断是否需要调整;步骤S50:通过位移及角度调整机构调整传感器的位移及角度。旨在解决现有技术因传感器的安装误差或检测环境的调整以及受到传感器结构及探测能力的限制,造成设备的检测能力和检测信号信噪比降低的技术问题。
主权项:1.一种传感器自检及自适应调整方法,其特征在于,所述传感器自检及自适应调整方法包括以下步骤:步骤S10:通过漏磁检测原理进行分析或仿真,并计算得到安装传感器的位置及角度,以及根据传感器的探测能力计算得到最小的漏磁背景噪声;步骤S20:根据计算得到安装传感器的位置及角度安装传感器;步骤S30:通过漏磁检测设备在没有损伤的检测对象上采集无损伤漏磁信号;步骤S40:根据无损伤漏磁信号判断是否需要进行传感器的位置及角度调整,当无损伤漏磁信号|D|≥M,则执行后续步骤,当无损伤漏磁信号|D|<M,则满足检测要求无需调整,其中,M为预设的误差值;步骤S50:通过位移及角度调整机构调整传感器的位移及角度,使无损伤漏磁信号满足|D|<M;具体包括以下步骤:步骤S501:位移及角度调整机构通过使用不同位移器件A、B、C、D伸长或者缩短不同位移达到X轴正方向移动或者与X轴逆时针角度转动,位移器件A与B置于同侧两端上下位置,位移器件C与D置于同侧两端且C与B相对、D与A相对;步骤S502:当D<0,对位移器件A和位移器件C的电压减小可调节单位电压Vr,同时对位移器件B和位移器件D的电压增加可调节单位电压Vr,则传感器逆时针角度增大,即D增大,重复步骤502,当|D|<M时,则停止调节,在调节时,如果调节角度达到可调节的最大值时,即位移器件A、B、C、D的调节电压均达到最大电压Vmax,仍无法满足|D|<M,则执行后续步骤;步骤S503:对位移器件A和位移器件B的电压增加可调节单位电压Vr,同时对位移器件C和位移器件D的电压减小可调节单位电压Vr,则传感器X轴正向位移增加,即D增大,重复步骤503,直至满足|D|<M;步骤S504:当D>0,对位移器件A和位移器件C的电压增加可调节单位电压Vr,同时对位移器件B和位移器件D的电压减小可调节单位电压Vr,则传感器顺时针角度增大,即D减小,重复步骤504,当|D|<M时,则停止调节,在调节时,如果调节角度达到可调节的最大值时,即位移器件A、B、C、D的调节电压均达到最大电压Vmax,仍无法满足|D|<M,则执行后续步骤;步骤S505:对位移器件A和位移器件B的电压减小可调节单位电压Vr,对位移器件C和位移器件D的电压增加可调节单位电压Vr,则传感器X轴反向位移增大,即D减小,重复步骤505,直至满足|D|<M。
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百度查询: 哈尔滨工业大学(深圳) 一种传感器自检及自适应调整方法及系统
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