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申请/专利权人：比科奇微电子(杭州)有限公司
摘要：提供一种测试向量生成方法和装置，方法包括：基于不同的测试模式下不同的第二测试向量长度，生成若干个测试向量长度组合，并利用ATPG工具生成故障覆盖测试数据，利用预处理后的故障覆盖测试数据训练神经网络模型。基于不同的测试模式下不同的第一测试向量长度生成第一长度组合集，利用预先训练好的神经网络模型处理第一长度组合集，以生成故障覆盖率网络集，选取故障覆盖率网络集中满足预设的约束条件对应的测试向量组合，获得最优长度组合结果；以及基于待测对象，调用ATPG工具，生成最优长度组合结果对应的测试向量。本公开的测试向量生成方法优化不同的测试模式的测试向量长度选取过程，合理利用不同的测试模式的优势，大幅提高测试效率。
主权项：1.一种测试向量生成方法，其特征在于，所述方法包括：基于不同的测试模式下不同的第一测试向量长度，生成第一长度组合集；利用待测对象对应的预先训练好的神经网络模型，处理所述第一长度组合集，以生成故障覆盖率网络集；选取所述故障覆盖率网络集中满足预设的约束条件对应的测试向量组合，获得最优长度组合结果；以及基于所述待测对象，调用ATPG工具，生成所述最优长度组合结果对应的测试向量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 比科奇微电子(杭州)有限公司 一种测试向量的生成方法和装置
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