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申请/专利权人：上海勘测设计研究院有限公司
摘要：本发明提供一种高低温环境变形测量装置、方法，包括高低温箱、形变组件、以及测量组件，所述形变组件设置在高低温箱内，用于夹持试样并使试样形变；所述测量组件设置在高低温箱外，用于测量试样的形变量；所述高低温箱中的温度可调节。本发明中的测量组件设置在高低温箱外，也即测量组件处于常温环境中，使高低温环境测量变形装置不惧高低温正常使用，解决了现有技术中电子引伸计不能在高低温环境下使用的问题。
主权项：1.一种高低温环境变形测量装置，其特征在于：包括高低温箱、形变组件、以及测量组件109，所述形变组件设置在高低温箱内，用于夹持试样并使试样形变；所述测量组件109设置在高低温箱外，用于测量试样的形变量；所述高低温箱中的温度可调节。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海勘测设计研究院有限公司 一种高低温环境变形测量装置、方法
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