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用于EUV光刻的超薄超低密度膜 

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申请/专利权人:琳得科美国股份有限公司

摘要:公开了一种过滤形成的纳米结构护层膜。所述过滤形成的纳米结构护层膜包括多条碳纳米纤维,所述多条碳纳米纤维随机交叉以形成呈平面定向的互连网络结构。所述互连结构在厚度处于3nm的下限到100nm的上限范围内的情况下允许至少92%的高最小EUV透射率,以允许有效地进行EUV光刻处理。

主权项:1.一种纳米结构膜,所述纳米结构膜包括:多条碳纳米管,所述多条碳纳米管随机交叉以形成呈平面定向的互连网络结构,所述互连网络结构具有在3nm的下限到100nm的上限范围内的厚度和92%的最小EUV透射率,其中所述多条碳纳米管包括单壁碳纳米管、多壁碳纳米管和至少50%的双壁碳纳米管,其中单壁碳纳米管的壁数目是一,所述双壁碳纳米管的壁数目是二,并且所述多壁碳纳米管的壁数目是三个或更多个。

全文数据:

权利要求:

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