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申请/专利权人：苏州韬盛电子科技有限公司
摘要：本实用新型属于芯片测试技术领域，公开了芯片测试探针及安装结构。芯片测试探针包括主体部、第一弹性部、第二弹性部、第一接触部以及第二接触部，第一弹性部与主体部相连接，第一弹性部与主体部夹角设置，第二弹性部与主体部远离第一弹性部的一端相连接，第二弹性部与主体部夹角设置，第一接触部与第一弹性部相连接，第一接触部与芯片引脚抵接，第二接触部与第二弹性部相连接，第二接触部与PCB测试板相连接。该芯片测试探针省掉了弹性件，整体结构更简单，更易于加工且成本较低。第一弹性部保证第一接触部与芯片引脚的接触稳定，第二弹性部保证第二接触部与PCB测试板的连接稳定，因此该芯片测试探针可以保证整体接触稳定，从而保证测试稳定。
主权项：1.芯片测试探针，其特征在于，包括：主体部10；第一弹性部20，与所述主体部10相连接，所述第一弹性部20与所述主体部10夹角设置；第二弹性部30，与所述主体部10远离所述第一弹性部20的一端相连接，所述第二弹性部30与所述主体部10夹角设置；第一接触部40，与所述第一弹性部20相连接，所述第一接触部40与芯片引脚抵接；第二接触部50，与所述第二弹性部30相连接，所述第二接触部50与PCB测试板相连接。
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百度查询： 苏州韬盛电子科技有限公司 芯片测试探针及安装结构
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