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申请/专利权人：沃特世科技公司
摘要：本发明描述了一种能够同时进行多个样本的分析的差示扫描量热仪DSC仪器。本文所述DSC仪器的一些实施方案包括在基底的整个表面上提供基本上均匀的温度的热基底。多个DSC单元例如通过将该单元直接安装到该基底的该表面而与该基底热连通。每个DSC单元包括用于进一步热隔离的第二热基底以及分别用于接纳参考室和样本室的参考平台和样本平台。热电装置设置在每个平台与该第二热基底之间。任选地，该参考室和该样本室可以是可在执行测量之后丢弃的一次性芯片，从而减少或消除清洁仪器部件以防止后续仪器操作的交叉污染的需要。
主权项：1.一种与差示扫描量热仪一起使用的样本芯片，所述样本芯片包括：主体，所述主体具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面，所述第二表面被配置为接触所述差示扫描量热仪的样本平台；内部空隙，所述内部空隙设置在所述第一表面和所述第二表面之间并且从所述第一表面上的第一端口延伸，所述内部空隙被配置为接纳待由所述差示扫描量热仪分析的样本。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 沃特世科技公司 高样本通量差示扫描量热仪
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