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申请/专利权人：四川大学
摘要：本申请提供一种波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质，涉及光谱测量技术领域。该测量计包括：光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块；光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块依次沿入射光传播方向排列设置；微纳结构散射片具有粗糙表面，粗糙表面由飞秒激光在透明材料表面诱导产生多个不同高度的随机纳米结构形成；其中，光入射模块用于接收待测波长入射光，并将待测波长入射光准直为平行光；微纳结构散射片用于对平行光进行随机传播，并产生散射光场；检测器模块用于根据散射光场的分布生成散斑图像，并基于散斑图像重建光谱，获得待测波长入射光的波长。该波长测量系统结构紧凑、成本低、分辨率高、鲁棒性强。
主权项：1.一种波长测量计，其特征在于，所述波长测量计包括：光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块；所述光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块依次沿入射光传播方向排列设置；所述微纳结构散射片具有粗糙表面，所述粗糙表面由飞秒激光在透明材料表面诱导产生多个不同高度的随机纳米结构形成；其中，所述光入射模块用于接收待测波长入射光，并将所述待测波长入射光准直为平行光；所述微纳结构散射片用于对所述平行光进行随机传播，并产生散射光场；所述检测器模块用于根据所述散射光场的分布生成散斑图像，并基于所述散斑图像重建光谱，获得所述待测波长入射光的波长；其中，所述多个不同高度的随机纳米结构之间的间隔尺寸范围为20nm-1μm。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 四川大学 波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质
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