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申请/专利权人：崂山国家实验室
摘要：本发明公开了一种基于相位统计的电离层测高仪O波与X波分离方法，属于电离层探测技术领域。本发明首先对双通道信号取模后进行非相干相加得到频率‑虚高‑能量图，对双通道信号进行相比后求相位角得到频谱‑虚高‑相位差图；然后利用恒虚警方法对频率‑虚高‑能量图进行检测，提取垂测电离层信号，根据检测结果位置对应关系得到垂测电离层信号相位差；再利用滑窗法汇总各频率垂测电离层信号相位差，接着利用高斯平滑计算各频点要补偿的相位差；最后将要补偿的相位差代入计算公式中实现O波与X波分离。本发明基于实际接收的回波信号，实时统计不同频率的相位差，动态调整分离变量，适用于多种模式的电离层信，分离效果好，鲁棒性强。
主权项：1.一种基于相位统计的电离层测高仪O波与X波分离方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取双通道垂测电离层信号；双通道电离层测高仪得到的信号表示为：datanst＝Inst+j*Qnst15dataewt＝Iewt+j*Qewt16式中datanst为南北天线接收到的信号，Inst为实部信号，Qnst为虚部信号；dataewt为东西天线接收到的信号，Iewt为实部信号，Qewt为虚部信号；S2：对双垂测电离层通道信号取模后进行非相干相加得到频率-虚高-能量图；S3：对垂测电离层双通道信号进行相比后求相位角得到频谱-虚高-相位差图；S4：利用恒虚警方法对所述频率-虚高-能量图进行检测，提取垂测电离层信号；S5：根据检测结果位置对应关系得到垂测电离层信号相位差；将恒虚警检测后的频率-虚高-能量图与频率-虚高-相位差图的位置关系进行一一对应，若频率-虚高-能量图中有信号，则保留频率-虚高-相位差图中的相位值，反之则令去除频率-虚高-相位差图中的相位值，经过处理即得到垂测电离层信号相位差；S6：利用滑窗法汇总各频率垂测电离层信号相位差的值；S7：利用高斯平滑计算各频点要补偿的相位差；S8：将计算得到的需要补偿的相位差带入公式13与14实现O波与X波分离：
全文数据：
权利要求：
百度查询： 崂山国家实验室 一种基于相位统计的电离层测高仪O波与X波分离方法
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