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摘要：本发明公开了一种DDR时序参数测量方法、装置、系统、介质及产品，涉及DDR芯片测试技术领域。所述方法是在处理器依次通过DDR控制器、DFI接口和端口物理层向被测DDR芯片发送时序参数测量用命令的过程中，先解析经过DFI接口的命令以得到针对所有类型DDR芯片进行全局统一设计的命令格式，然后将命令解析结果转换为用于进行DDR时序参数测量的统一型测量所需信息，最后应用该信息测量得到两命令之间的时差或命令与DFI接口信号之间的时差，并将该时差作为DDR时序参数予以输出，如此可面对不同DDR类型的芯片，采用完全相同的测量模块实现统一的DDR时序参数测量，进而可使整个测量方案简单通用，具有良好的扩展性和通用性。
主权项：1.一种DDR时序参数测量方法，其特征在于，由DDR时序参数测量系统的时序参数测量模块执行，其中，所述DDR时序参数测量系统还包括有处理器、DDR控制器、DFI接口和用于连接被测DDR芯片的端口物理层，所述处理器、所述DDR控制器、所述DFI接口和所述端口物理层依次连接，所述DFI接口还连接所述时序参数测量模块；所述DDR时序参数测量方法，包括：在所述处理器依次通过所述DDR控制器、所述DFI接口和所述端口物理层向所述被测DDR芯片发送时序参数测量用命令的过程中，解析经过所述DFI接口的时序参数测量用命令，其中，所述时序参数测量用命令采用针对所有类型DDR芯片进行全局统一设计的命令格式，所述所有类型DDR芯片包含有所述被测DDR芯片；将所述时序参数测量用命令的解析结果转换为用于进行DDR时序参数测量的统一型测量所需信息，其中，所述统一型测量所需信息包含有针对所述所有类型DDR芯片进行全局统一设计的命令类型、命令范围和命令对象；应用所述统一型测量所需信息，测量得到前后两个所述时序参数测量用命令之间的时差或测量得到所述时序参数测量用命令与DFI接口信号之间的时差，并将测量所得时差作为所述被测DDR芯片的DDR时序参数予以输出。
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