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摘要：本发明所提供的一种磁光克尔仪样品校正方法，能够通过初始校正、动态校正对被测物的被测面的位置、平面倾角进行调整，以获取被测物的被测面的清晰的像，同时能够在磁光克尔仪运行过程中，保证被测物的成像结果清晰、稳定。本发明还提供了一种磁光克尔仪，能够根据光学组件在被测物的被测面上的投影的边缘校正样品位置，从而在磁光克尔仪的使用过程中保持较高的清晰度和较为稳定的成像结果。
主权项：1.一种磁光克尔仪样品校正方法，所述磁光克尔仪包括光学组件，所述光学组件被构造成能够用于在被测面形成磁光克尔效应并观察的形式，其特征在于，所述校正方法包括：初始校正：通过所述光学组件在所述被测面形成投影，通过所述光学组件采集包括边缘的所述投影，调整所述被测面、光学组件的其中至少之一，使所述投影达到预设状态；动态校正：在所述磁光克尔仪运行时，调整所述被测面、光学组件的其中至少之一，使所述投影与预设状态的差异符合预设要求。
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百度查询： 致真精密仪器(青岛)有限公司 一种磁光克尔仪样品校正方法
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