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摘要:本发明涉及半导体生产设备校验工具设备领域,公开了半导体晶体生长用钨丝绳校验设备,包括支撑架,所述支撑架的内壁固定连接有固定板,所述固定板的下表面固定连接有第一电机,所述第一电机的输出端固定连接有转动盘,所述转动盘的下表面转动连接在固定板的上表面,所述调节块的上表面固定连接有第一固定柱,所述第一固定柱的外壁转动连接有连接套杆,所述连接套杆的内壁转动连接有第二固定柱。通过开启第一电机,其输出端通过转动盘带动调节块公转,而调节块通过第一固定柱支撑的连接套杆带动移动架在导轨上进行往复滑动,可以满足来对钨丝绳进行往复拉伸测试,从而达到有效地评估钨丝绳在反复拉伸和回缩过程中的疲劳强度和耐久性的效果。
主权项:1.半导体晶体生长用钨丝绳校验设备,包括支撑架(1),其特征在于,所述支撑架(1)的内壁固定连接有固定板(2),所述固定板(2)的下表面固定连接有第一电机(3),所述第一电机(3)的输出端固定连接有转动盘(4),所述转动盘(4)的下表面转动连接在固定板(2)的上表面,所述转动盘(4)的上表面固定连接有固定框(5),所述固定框(5)的内壁滑动连接有调节块(6),所述调节块(6)的上表面固定连接有第一固定柱(7),所述第一固定柱(7)的外壁转动连接有连接套杆(8),所述连接套杆(8)的内壁转动连接有第二固定柱(10),所述第二固定柱(10)的底端固定连接有支板(9),所述支板(9)的外壁固定连接有移动架(11),所述移动架(11)的内壁滑动连接有导轨(12),所述导轨(12)的下表面固定连接在固定板(2)的上表面,所述固定框(5)的外壁设置有调节组件,所述调节组件用于调节对钨丝绳的往复拉伸距离的作用。
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