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摘要：本发明公开一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。本发明还公开了一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置。本发明可自动计数，可靠性高。
主权项：1.测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于包括：将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；将充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针与测试板电连接；在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数；所述磁铁粘贴于所述tws耳机的外壳上。
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百度查询： 深圳市敦实电子有限公司 测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置
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