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摘要：本发明旨在提供一种测试成本低、操作简便、测试效率高且能保证信号到达测试设备的质量和时间上的一致性的高精度时频信号测试装置和方法。本发明装置包括MCU（1）、FPGA（2）、航空连接器（3）、信号转换芯片（4）、晶振（5）、时钟缓存器（6）以及电源（7）；其测试方法包括以下步骤：a.装置上电，系统初始化；b.晶振生成的时钟信号进入时钟缓存器并处理，单一的时钟信号被分配并转换成四路独立的时钟输出；c.信号转换芯片将接收到的秒脉冲信号从差分信号转换为TTL电平信号输出；d.FPGA将需要测试的秒脉冲信号发生至秒脉冲信号测试设备上进行秒脉冲信号的特性测试。本发明应用于时频信号测试技术领域。
主权项：1.一种高精度时频信号测试装置，其特征在于，该装置包括用于对FPGA进行初始化，发送配置数据到FPGA，处理FPGA返回的测试结果并与外围的后台服务器通信的MCU（1）；与所述MCU（1）及秒脉冲信号测试设备（8）进行连接通信，用于接收所述MCU（1）下发的测试指令和配置数据，执行测试操作并反馈测试结果到所述MCU（1）的FPGA（2）；用于与产生秒脉冲信号的待测产品（9）连接并将仪器产生的所有秒脉冲信号有效地归集起来集中传输的航空连接器（3）；与所述航空连接器（3）连接并将接入的信号统一转换为TTL电平信号的信号转换芯片（4），所述信号转换芯片（4）将处理后的信号发送至所述FPGA（2）；用于产生时钟信号的晶振（5）；用于接收所述晶振（5）产生的时钟信号，对时钟信号进行滤波降噪处理后供给产生秒脉冲信号的待测产品（9）并确保待测产品能够准确地发生所需的时间信号的时钟缓存器（6）；以及用于分别向所述MCU（1）、所述FPGA（2）、所述信号转换芯片（4）以及产生秒脉冲信号的待测产品（9）供电的电源（7）。
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百度查询： 中山市博测达电子科技有限公司 一种高精度时频信号测试装置和方法
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