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摘要：本发明公开了一种微细孔内壁缺陷检测控制优化方法及系统。首先，获取微细孔内壁的高精度图像数据，并通过图像预处理模型对其进行预处理，得到预处理图像数据。基于卷积神经网络构建缺陷识别模型，对预处理图像数据进行缺陷识别，生成缺陷识别报告。根据报告评估识别准确率，并优化图像预处理模型和缺陷识别模型，得到优化后的模型。使用优化模型对高精度图像数据进行二次预处理和缺陷识别，生成二次缺陷识别报告，进行缺陷定位操作，获得缺陷位置信息。最后，构建缺陷热力图，分析缺陷分布特征，进而优化检测方案。该方法提高了微细孔内壁缺陷检测的准确性和效率。
主权项：1.一种微细孔内壁缺陷检测控制优化方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待缺陷检测的微细孔内壁的高精度图像数据，构建图像预处理模型，根据所述图像预处理模型对高精度图像数据进行预处理，得到预处理高精度图像数据；基于卷积神经网络构建缺陷识别模型对所述预处理高精度图像数据进行微细孔内壁缺陷识别，得到缺陷识别报告；根据所述缺陷识别报告评估微细孔内壁缺陷的识别准确率，根据所述识别准确率对所述图像预处理模型和缺陷识别模型进行优化，得到图像预处理优化模型和缺陷识别优化模型；根据所述图像预处理优化模型和缺陷识别优化模型对所述高精度图像数据进行二次预处理和缺陷识别，得到二次缺陷识别报告，根据二次缺陷识别报告对缺陷进行定位操作，得到缺陷位置信息；根据所述缺陷位置信息构建缺陷热力图，识别缺陷分布特征；根据所述缺陷分布特征对微细孔内壁缺陷检测方案进行优化。
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