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摘要：本发明公开了一种基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统，包括以下步骤：首先获取目标工件的计算机断层扫描数据，构建三维模型，并确定微细孔通道的分布，生成分布图。然后，基于深度优先搜索算法对通道分布图进行分析，确定缺陷检测路径。接着，获取标准缺陷图像数据和不同环境特征下的环境‑缺陷图像数据，分析图像几何偏差对检测精度的影响，得到影响数据。最后，根据影响数据制定不同环境下的缺陷检测策略，并结合检测路径构建完整的缺陷检测方案。本发明提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效率。
主权项：1.一种基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法，其特征在于，包括以下步骤：获取目标工件的计算机断层扫描数据，根据所述计算机断层扫描数据构建目标工件三维模型，根据目标工件三维模型确定目标工件的微细孔通道分布，构建微细孔通道分布图；基于深度优先搜索算法对所述微细孔通道分布图进行分析，确定目标工件的微细孔通道的缺陷检测路径；获取微细孔通道的标准缺陷图像数据和微细孔通道缺陷在各通道环境特征下的环境-缺陷图像数据，根据标准缺陷图像数据和环境-缺陷图像数据确定各环境特征下的缺陷图像几何偏差；根据所述缺陷图像几何偏差确定在各环境特征下对微细孔通道缺陷检测精度的影响，得到影响数据；根据所述影响数据确定在不同环境特征下微细孔通道的缺陷检测策略；根据所述缺陷检测路径和缺陷检测策略构建目标工件微细孔通道的缺陷检测方案。
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百度查询： 苏州鼎甄智能科技有限公司 基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统
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