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摘要：本发明公开了芯片系统级测试装置。该装置包括：电源模块，被配置为基于测试指令对待测芯片进行供电，并且检测所述待测芯片的电源引脚的漏电流；开短路测试模块，被配置为基于所述测试指令向所述待测芯片的输入输出引脚发送驱动电平，以测试所述待测芯片的所述输入输出引脚的开路和短路；以及接口测试模块，被配置为基于所述测试指令向所述待测芯片的第一类型接口和第二类型接口分别发送接口测试数据，以测试所述待测芯片的所述第一类型接口和所述第二类型接口的接口信号，所述第一类型接口的传输速率大于所述第二类型接口的传输速率。本发明不仅有效简化芯片系统级测试的硬件电路结构，还能实现开短路测试，提高测试覆盖率。
主权项：1.一种芯片系统级测试装置，其特征在于，包括：电源模块，被配置为基于测试指令对待测芯片进行供电，并且检测所述待测芯片的电源引脚的漏电流；开短路测试模块，被配置为基于所述测试指令向所述待测芯片的输入输出引脚发送驱动电平，以测试所述待测芯片的所述输入输出引脚的开路和短路；以及接口测试模块，被配置为基于所述测试指令向所述待测芯片的第一类型接口和第二类型接口分别发送接口测试数据，以测试所述待测芯片的所述第一类型接口和所述第二类型接口的接口信号，所述第一类型接口的传输速率大于所述第二类型接口的传输速率。
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