买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
摘要:本申请公开了一种位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取标记图像,基于EDCA椭圆检测算法与SQPnP算法求解位姿参数初始值;基于空间圆成像模型建立模型函数;根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数;基于L‑M算法最小化所述目标函数,得到优化后的位姿参数。根据本申请的方法,在对标记进行位姿测量时,可以减少由于空间圆投影椭圆中心与空间圆中心投影点存在偏差,导致测量准确度低的问题。显著提高了位姿解算的准确度。
主权项:1.一种位姿参数测量方法,其特征在于,包括:获取标记图像,基于EDCA椭圆检测算法与SQPnP算法求解位姿参数初始值;基于空间圆成像模型建立模型函数;根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数;基于L-M算法最小化所述目标函数,得到优化后的位姿参数。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京理工大学 位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。