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摘要：本发明涉及电子整机加速因子评估技术领域，更具体地，涉及一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其包括以下步骤：S1：确定薄弱环节元器件；S2：计算元器件在高温下的贮存寿命分布类型、分布参数；S3：计算电子整机在常温下特征寿命为L0时的可靠性置信下限，再计算电子整机在高温下的特征寿命L1；S4：根据两个特征寿命的比值得到加速因子大小。本发明克服了现有技术需要花费大量时间对电子整机进行试验，造成较高的时间成本和试验成本，而且不一定能够通过有限时间的试验评估得到加速因子的不足，本发明可实现高可靠长贮存寿命电子整机产品的加速因子的评估，减少时间成本和试验成本的浪费。
主权项：1.一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确定电子整机的薄弱环节元器件；S2：根据所述薄弱环节元器件在常温下的贮存寿命分布类型、分布参数和激活能，利用Arrhenius模型计算得到所述薄弱环节元器件在高温下的贮存寿命分布类型、分布参数；其中，所述常温为电子整机现场贮存温度，所述高温为加速试验所选用的高应力温度；S3：将所述薄弱环节元器件设置为串联且组成一个系统；设置所述电子整机在常温下特征寿命为L0，根据常温下所述薄弱环节元器件的贮存寿命分布类型和分布参数，计算所述电子整机在常温下特征寿命为L0时的可靠性置信下限；计算所述电子整机在高温下可靠性置信下限，令高温下可靠性置信下限等于常温下可靠性置信下限时，得到对应的高温下特征寿命为L1；S4：计算所述特征寿命L0与所述特征寿命L1的比值，得到所述电子整机的加速因子大小。
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