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摘要：本发明涉及一种测试电路、测试系统和测试方法。该测试电路包括：分压模块和检测模块。测试电路的分压模块的第一端与待测试芯片的预设引脚连接，分压模块的第二端用于接收电源电压，通过检测模块检测分压模块的第一端的待测电压，若待测电压满足预设条件，即待测电压为电源电压的预设倍数时，可以确定待测试芯片合格。因此，上述测试电路无需采用综合测试仪，也可以实现对芯片引脚的焊接可靠性进行测试，降低了对芯片引脚的焊接可靠性的测试成本。
主权项：1.一种测试电路，其特征在于，包括：分压模块，所述分压模块的第一端与待测试芯片的预设引脚连接，所述分压模块的第二端用于接收电源电压，所述分压模块的总阻抗与所述待测试芯片的预设引脚的对地阻抗相同；检测模块，与所述分压模块的第一端连接，用于检测所述分压模块的第一端的待测电压，若所述待测电压满足预设条件，则标志所述待测试芯片合格；其中，所述预设条件为所述待测电压为所述电源电压的预设倍数，所述预设倍数B为：其中，R1为预设引脚的对地阻抗，R2为分压模块的总阻抗，d为误差系数。
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百度查询： 深圳市广和通无线股份有限公司 测试电路、测试系统和测试方法
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