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摘要：本发明公开一种介观尺度下微缺陷高分辨率成像检测方法及装置，其检测方法包括：在被检测试件的表面布置多条超声检测路径，在被检测试样中激励与接收特定频率下的超声导波，分析各条超声检测路径下接收信号频域中二次谐波，根据二次谐波的幅值构建信号差异系数；根据上述信号差异系数，得到缺陷概率分布图像；并利用多输入卷积神经网络模型得到对应被检测试件的二次谐波幅值和缺陷概率分布图像，构成介观尺度下微缺陷几何特征信息与其对应超声特征信息之间的映射关系，几何特征信息包括介观尺度下微缺陷的尺寸与位置，超声特征信息包括二次谐波的幅值和缺陷概率分布图像，实现对被检测试样内部介观尺度下微缺陷尺寸和位置的预测。

主权项：1.一种介观尺度下微缺陷高分辨率成像检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：在被检测试件的表面布置多条超声检测路径；基于超声非线性理论，选取近似满足相速度匹配条件的超声导波模态；步骤2：在被检测试样中激励与接收特定频率下的超声导波，分析各条超声检测路径下接收信号频域中二次谐波；根据所述二次谐波的幅值构建信号差异系数；步骤3：根据各条超声检测路径下的信号差异系数，得到缺陷概率分布图像；并利用多输入卷积神经网络模型得到对应被检测试件的二次谐波幅值和缺陷概率分布图像，构成介观尺度下微缺陷尺寸和位置—二次谐波幅值和损伤概率分布图像信息集；基于介观尺度下微缺陷尺寸和位置—二次谐波幅值和损伤概率分布图像信息集，实现对被检测试样内部介观尺度下微缺陷尺寸和位置的预测；所述步骤1中具体包括：根据被检测试样的材料类型和几何形状，通过半解析有限元方法计算其频散曲线；通过规划检测区域，在被检测试样表面选取M个检测位置，形成多条超声检测路径；通过所述的频散曲线，选取近似满足相匹配条件的超声导波模态对：超声激励频率f1以及二次谐波频率f2；所述步骤2具体包括：基于选取的近似满足相速度匹配条件的超声导波模态，计算得到超声换能器所配套使用楔块的入射角度；通过相反转技术得到各条超声检测路径下接收信号频域中二次谐波的幅值；其中，所述的相反转技术具体步骤如下：通过双晶超声换能器激励所述的频率为f1，相位为0°的超声导波，通过其他检测位置上的双晶超声换能器接收相应的超声波信号，对接收信号进行FFT滤波处理，得到时域信号，为激励信号频率为f1、相位为0°情况下所接收信号，i为其他检测位置上的双晶超声换能器编号，M为大于3的自然数；通过双晶超声换能器激励所述的频率为f1，相位为180°的超声导波，通过其他检测位置上的双晶超声换能器接收相应的超声信号，对接收信号进行FFT滤波处理，得到时域信号，为激励信号频率为f1、相位为180°情况下所接收信号；将所述的时域信号的幅值加上所述的时域信号的幅值，得到相反转处理后的时域信号；通过对所述的时域信号进行FFT处理，得到时域信号频域中二次谐波f2的幅值，重复上述步骤，得到每一个检测位置下所有接收超声信号频域中二次谐波的幅值；通过所述的各条检测路径下经过相反转处理后时域信号频域中二次谐波的幅值，计算得到对应的信号差异系数。

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