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摘要：本发明公开了一种ADC芯片测试电路和设备，包括计数器；数据比较模块，分别与计数器和待测芯片连接，控制端连接有第一预处理模块，第一预处理模块与计数器连接，数据比较模块连接有第二预处理模块，第一预处理模块用于检测数字码的极值并给所述数据比较模块发送补位使能信号，第二预处理模块用于保持数据比较模块的输出信号稳定；积分控制模块，与第二预处理模块连接；DAC模块，与计数器连接；幅值衰减模块，分别与积分控制模块和DAC模块连接，输出端用于与待测芯片的输入端连接；时钟模块，分别与第二预处理模块、DAC模块和待测芯片的时钟信号端连接。利用成本较低的器件进行ADC芯片测试，降低测试成本。

主权项：1.一种ADC芯片测试电路，其特征在于，包括：计数器（100），用于输出数字码；数据比较模块（300），具有第一输入端、第二输入端、控制端和输出端，所述数据比较模块（300）的第一输入端与所述计数器（100）连接，所述数据比较模块（300）的第二输入端与待测芯片（900）的输出端连接，所述数据比较模块（300）的控制端连接有第一预处理模块（200），所述第一预处理模块（200）的输入端与所述计数器（100）连接，所述数据比较模块（300）的输出端连接有第二预处理模块（400），所述第一预处理模块（200）用于检测所述数字码的极值并给所述数据比较模块（300）发送补位使能信号，所述第二预处理模块（400）用于保持所述数据比较模块（300）的输出信号稳定；积分控制模块（500），与所述第二预处理模块（400）的输出端连接；DAC模块（600），输入端与所述计数器（100）连接；幅值衰减模块（700），具有第一输入端、第二输入端和输出端，所述幅值衰减模块（700）的第一输入端与所述积分控制模块（500）的输出端连接，所述幅值衰减模块（700）的第二输入端与所述DAC模块（600）的输出端连接，所述幅值衰减模块（700）的输出端用于连接所述待测芯片（900）的输入端；时钟模块（800），输出端分别与所述第二预处理模块（400）、所述DAC模块（600）和所述待测芯片（900）的时钟信号端连接；所述第一预处理模块（200）包括极大值检测电路（210）和极小值检测电路（220），所述极大值检测电路（210）的输入端和所述极小值检测电路（220）的输入端分别与所述计数器（100）连接，所述极大值检测电路（210）的输出端和所述极小值检测电路（220）的输出端分别与所述数据比较模块（300）连接，所述极大值检测电路（210）用于检测所述数字码是否为极大值，并根据检测结果输出第一补位使能信号，所述极小值检测电路（220）用于检测所述数字码是否为极小值，并根据检测结果输出第二补位使能信号；所述数据比较模块（300）包括多个级联连接的数值比较芯片（310），所述数值比较芯片（310）具有第一输入端、第二输入端、级联输入端和输出端，每一级所述数值比较芯片（310）的第一输入端用于分别与所述计数器（100）连接，每一级所述数值比较芯片（310）的第二输入端分别与所述待测芯片（900）的输出端连接，前一级所述数值比较芯片（310）的输出端与后一级所述数值比较芯片（310）的级联输入端连接，第一级所述数值比较芯片（310）的级联输入端作为所述数据比较模块（300）的控制端，最后一级所述数值比较芯片（310）的输出端作为所述数据比较模块（300）的输出端。

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