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一种纳米孔膜孔径保存效果的评价方法及纳米孔膜的孔径保存方法 

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摘要:本发明涉及一种纳米孔膜孔径保存效果的评价方法及纳米孔膜的孔径保存方法,所述评价方法包括如下步骤:1对未经孔径保存的纳米孔膜进行电流‑电压曲线测试,获得所述纳米孔膜的初始电流和初始电压;2将所述纳米孔膜进行孔径保存,然后再对经孔径保存后的纳米孔膜进行电流‑电压曲线测试,获得所述纳米孔膜的保存后电流和保存后电压;3利用评价公式,计算保存效果,所述评价公式为所述ΔD越小,孔径变化越小,保存效果越好。本发明的评价方法操作方便,准确度高,适用于纳米孔膜保存效果的验证。

主权项:1.一种纳米孔膜孔径保存效果的评价方法,其特征在于:所述评价方法包括如下步骤:1对未经孔径保存的纳米孔膜进行电流-电压曲线测试,获得所述纳米孔膜的初始电流和初始电压;2将所述纳米孔膜进行孔径保存,然后再对经孔径保存后的纳米孔膜进行电流-电压曲线测试,获得所述纳米孔膜的保存后电流和保存后电压;3利用评价公式,计算保存效果,所述评价公式为 其中,ΔD为描述孔径保存效果的无量纲数的绝对值,I0为所述纳米孔膜的初始电流,V0为所述纳米孔膜的初始电压,I1为所述纳米孔膜的保存后电流,V1为所述纳米孔膜的保存后电压,t为保存时间,所述ΔD越小,孔径变化越小,保存效果越好。

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