买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
摘要:本发明涉及显微光学检测技术领域,尤其涉及一种多模态显微光学检测系统,包括显微系统,以及设置在显微系统上的拉曼模块、荧光模块、偏振模块和高光谱模块;其中,样品放置在显微系统中,显微系统向样品发射照明光;拉曼模块和荧光模块向样品的同一位置发出对应的光束,使样品产生拉曼光和荧光;拉曼光回到拉曼模块中,荧光回到荧光模块中,照明光被样品反射后进入偏振模块和高光谱模块中,得到样品的同一位置在不同光下的表征。本发明以多个检测模块检测被测样品同一位置,可实现对被测样品的多维检测。而多维检测可提高检测的准确性和可靠性,此外多个维度的结果会对样品了解更全面。
主权项:1.一种多模态显微光学检测系统,其特征在于:包括显微系统、拉曼模块、荧光模块、偏振模块和高光谱模块;其中,样品放置在所述显微系统中,所述显微系统向所述样品发射照明光;所述拉曼模块包括拉曼光谱仪和拉曼成像结构,所述拉曼光谱仪通过所述拉曼成像结构向所述样品发射拉曼光激发激光,所述样品经所述拉曼光激发激光的激发后产生拉曼光,所述拉曼光经所述拉曼成像结构进入所述拉曼光谱仪中;所述荧光模块包括荧光光谱仪和荧光成像结构,所述荧光光谱仪通过所述荧光成像结构向所述样品发射荧光激发激光,所述样品经所述荧光激发激光的激发后产生荧光,所述荧光经所述荧光成像结构进入所述荧光光谱仪中;所述偏振模块包括偏振成像结构和偏振成像仪,所述高光谱成像模块包括高光谱成像结构和高光谱成像仪;所述照明光被所述样品反射后分别经过所述偏振成像结构和所述高光谱成像结构对应进入所述偏振成像仪和所述高光谱成像仪中;所述拉曼成像结构、所述荧光成像结构、所述偏振成像结构和所述高光谱成像结构同光轴设置在所述显微系统上,使所述拉曼光、所述荧光和所述样品反射的照明光来自于所述样品的同一位置,从而得到所述样品的同一位置在不同光下的表征。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 多模态显微光学检测系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。