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摘要:本申请涉及图像处理技术领域,具体涉及一种IC封装载板外观缺陷视觉检测方法及系统,该方法包括:根据各凸包内每个超像素块的区域集中度,所述颜色亮度差异值以及各凸包内每个超像素块中所有连通域的面积,确定各凸包内每个超像素块的区域特征值,确定封装载板灰度图中各像素点的滤波窗口,对滤波后的封装载板进行检测。本申请通过分析IC封装载板上金面区域中的正常纹理区域、氧化缺陷区域以及采集的图像中出现的噪声的特征,确定IC封装载板上每个像素点在滤波算法中的窗口尺寸,提高了对IC封装载板上金面区域中氧化缺陷检测的准确度。
主权项:1.一种IC封装载板外观缺陷视觉检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取封装载板灰度图,并采用双阈值分割获取封装载板灰度图中的目标区域;采用凸包算法获取目标区域中各个凸包,并将各凸包分割为多个超像素块;获取各凸包内每个超像素块的色度统计直方图,根据各凸包内每个像素块与其余所有凸包内所有超像素块的色度统计直方图间的相似度,确定各凸包内每个超像素块的颜色差异值;获取各凸包内每个超像素块的亮度统计直方图,按照所述颜色差异值的确定方法,得到每个超像素块的亮度差异值,并结合所述颜色差异值,确定各凸包内每个超像素块的颜色亮度差异值;提取各凸包内每个超像素块的连通域,根据各凸包内每个超像素块中任意两个连通域之间距离的分布情况,确定各凸包内每个超像素块的区域集中度,并结合所述颜色亮度差异值以及各凸包内每个超像素块中所有连通域的面积,确定各凸包内每个超像素块的区域特征值;根据目标区域中所有像素点的亮度值,结合所述区域特征值确定封装载板灰度图中每个像素点的纹理过滤程度,并结合封装载板灰度图中像素点的分布情况确定封装载板灰度图中各像素点的滤波窗口,对滤波后的封装载板进行检测。
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