买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
摘要:本发明提供了一种晶圆电镜扫描图像轮廓的提取方法及系统,属于半导体领域。该晶圆电镜扫描图像轮廓的提取方法包括获取晶圆原始扫描图像,并对原始扫描图像进行预处理,获取目标图像。将目标图像进行边缘检测,获取二进制图像。从二进制图像中抽取轮廓,并对抽取的轮廓做筛选和补全处理,得到二进制图像轮廓。对二进制图像轮廓进行筛选处理,并输出晶圆图像轮廓,将晶圆图像轮廓叠加至原始扫描图像中,以进行图形化显示。本发明通过首先读取晶圆电镜扫描原始图像,对其进行预处理等步骤后,最后输出晶圆图像轮廓,并将其叠加到原始晶圆电镜扫描图像中图形化显示,能够快速、准确地获得其二进制图像轮廓信息。
主权项:1.一种晶圆电镜扫描图像轮廓的提取方法,其特征在于,包括:获取晶圆原始扫描图像,并对原始扫描图像进行预处理,获取目标图像;将所述目标图像进行边缘检测,获取二进制图像;从所述二进制图像中抽取轮廓,并对抽取的轮廓做筛选和补全处理,得到二进制图像轮廓;对所述二进制图像轮廓进行筛选处理,并输出晶圆图像轮廓,将所述晶圆图像轮廓叠加至所述原始扫描图像中,以进行图形化显示。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海华力集成电路制造有限公司 晶圆电镜扫描图像轮廓的提取方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。