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摘要：本发明实施例提供一种高安全性电子系统的风险控制方法及装置，该方法包括：根据功能失效状态的类别，获取每一类功能失效状态下的所有故障类，确定所有故障率的预计值和故障的恢复时间，以此确定系统整体满足任务要求；确定每一故障均有对应的深度防御策略；根据故障率的预计值，和故障率的指标值，确定每一类故障满足预设的安全裕量；根据每一故障类造成的危害程度，以及危害影响是否可接受，确定关键故障类型；确定每一关键故障类型均有监测系统，能够监测故障的发生和故障的恢复时间。该方法确保系统整体满足任务要求，且每一故障满足预设的安全裕量，将风险限制在受控状态，保证了所有关键故障能够及时监测，有利于减缓措施的实施。

主权项：1.一种高安全性电子系统的风险控制方法，其特征在于，包括：根据功能失效状态的类别，获取每一类功能失效状态下的所有故障类，得到系统的所有故障类，确定所有故障率的预计值和故障的恢复时间；根据所有故障率的预计值和故障的恢复时间，确定系统整体满足任务要求；确定每一故障均有对应的深度防御策略；根据故障率的预计值，和故障率的指标值，确定每一类故障满足预设的安全裕量；根据每一故障类造成的危害程度，以及危害影响是否可接受，确定关键故障类型；确定每一关键故障类型均有监测系统，能够监测故障的发生和故障的恢复时间；所述根据所有故障率的预计值和故障的恢复时间，确定系统整体满足任务要求，包括：根据可用性公式，若系统的可用性满足预设阈值，则系统整体满足任务要求；可用性公式包括： 相应地，所述方法还包括：根据可用性公式，调整每一故障的减缓措施，以使得系统可用性满足预设阈值；其中,A为系统可用性，i为故障类，λi为i类故障的故障率、Ti为i类故障的恢复时间；所述方法还包括：确定需重点监测的故障对象，获取故障率的真实值；根据故障率真实值和故障率指标值，确定故障率指标值是否符合任务要求，若不符合，则调整指标值；所述确定所有故障率的预计值，包括：根据系统的BOM清单，获取每个元器件对空间环境的所有失效物理机理响应后的总故障率，确定每一故障率的预计值；所述获取每个元器件对空间环境的所有失效物理机理响应后的总故障率，包括：获取空间辐射响应导致的单粒子效应故障率，总剂量效应故障率和位移损伤故障率，得到空间辐射故障率；获取元器件对所有非空间辐射失效物理机理响应，导致的非空间辐射故障率；空间辐射故障率和非空间辐射故障率的总和，结合器件制造参数和工艺参数，得到元器件在所述空间环境的总故障率；其中，所述空间辐射故障率的计算公式如下：λspace＝λSEE+λTID+λDD；λspace为所述空间辐射故障率，λTID为所述总剂量效应故障率，λDD为所述位移损伤故障率，λSEE为所述单粒子效应故障率；所述元器件在所述空间环境的总故障率的计算公式如下：λ＝λphysical×ΠPM×ΠProcess；λ为单个元器件在空间环境下的故障率，ΠPM为器件制造参数，代表器件制造的质量和技术影响参数，ΠProcess为工艺参数，代表器件的产品开发，制造和使用过程的质量和技术控制参数；λphysical＝λNOspace+λspace；λNOspace为所述非空间辐射故障率，λphysical为失效物理机理导致的总故障率。

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