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摘要:本发明提供了一种应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、系统、设备和计算机可读存储介质。通过本申请提出的技术方案,能够实现针对数据区域的动态化选取,去除了在数据区域选取过程中对于原始数据集的严格依赖,简化了针对不同集成电路器件进行数据区域选取的复杂度,提升了数据区域选取的通用性和复用性,适用范围广泛,具有可推广价值。
主权项:1.一种应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法,其特征在于,所述数据区域动态选取方法包括:获取所述集成电路器件对应的测试数据集和或仿真数据集;根据用户指令,获取若干关联于所述集成电路器件的偏置条件变量,所述偏置条件变量关联于所述集成电路器件的待测试数据项和或待仿真数据项;根据所述用户指令,获取所述偏置条件变量对应的偏置条件;根据所述偏置条件变量和所述偏置条件,生成关联于所述待测试数据项和或所述待仿真数据项的自定义选取模型;根据所述自定义选取模型,于所述测试数据集中选取对应的动态测试数据集;和或根据所述自定义选取模型,于所述仿真数据集中选取对应的动态仿真数据集;针对所述集成电路器件,根据所述动态测试数据集执行测试操作和或根据所述动态仿真数据集执行仿真操作;所述偏置条件变量包括所述待测试数据项的若干第一特征点;和或所述待仿真数据项的若干第二特征点;在所述待测试数据项包括集成电路中关联于所述集成电路器件的若干第一测试点的电压的情况下,所述第一特征点包括:所述第一测试点的最大电压值、所述第一测试点的最小电压值、所述第一测试点的零电压值、所述第一测试点的饱和电压值以及所述第一测试点的阀电压值;在所述待仿真数据项包括集成电路中关联于所述集成电路器件的若干第二测试点的电压的情况下,所述第二特征点包括:所述第二测试点的最大电压值、所述第二测试点的最小电压值、所述第二测试点的零电压值、所述第二测试点的饱和电压值以及所述第二测试点的阀电压值;所述偏置条件变量对应的所述偏置条件根据选定的若干所述第一特征点和或若干所述第二特征点确定;所述偏置条件包括由若干选定的所述第一特征点和或所述第二特征点形成的数据区间。
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百度查询: 上海概伦电子股份有限公司 应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、系统、设备和计算机可读存储介质
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