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摘要：本发明提供一种目标物校准响应曲线获取方法及目标物含量测量方法。本发明首先对硅纳米线传感器进行表面改性处理，尽可能排除硅纳米线表面附着的干扰物，之后通过测量零目标物溶液的阈值电压以及不同目标物含量的量化溶液的阈值电压，本发明可以构建目标物含量与阈值电压之间的目标物响应曲线，通过对多个硅纳米线传感器的目标物响应曲线进行均值化处理，本发明最终可以获得目标物校准响应曲线；进一步地，本发明提供一种目标物含量测量方法，通过目标物校准响应曲线，本发明可以通过测量阈值电压直接获取溶液中的目标物含量，本发明具有检测准确率高、可复用性强的优点。
主权项：1.一种目标物校准响应曲线获取方法，其特征在于，所述目标物校准响应曲线获取方法的步骤至少包括：S1：对硅纳米线传感器进行表面改性处理，以使得所述硅纳米线传感器的表面结合与目标物产生反应的物质；S2：设置所述硅纳米线传感器的源漏电流，所述源漏电流的范围为0.1nA-10nA，获取所述硅纳米线传感器在零目标物溶液中的阈值电压，得到参照阈值电压；S3：提供m种目标物含量不相同的量化溶液，分别将所述硅纳米线传感器设置于各量化溶液中并测量对应第一阈值电压，其中，为中的最大值；S4：计算第一阈值电压差，对进行归一化处理得到，拟合目标物含量与之间的目标物响应曲线；所述第一阈值电压差归一化处理后得到的，其中，最大阈值电压差；S5：对n个硅纳米线传感器分别进行S1至S4步骤的处理，由此产生n个目标物响应曲线，得到最终的目标物校准响应曲线；其中，m为大于等于3的自然数，i为1到m之间的自然数，n为大于等于2的自然数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 目标物校准响应曲线获取方法及目标物含量测量方法
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