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摘要：本申请实施例提供了一种CMOS图像传感器测试方法、装置及CMOS图像传感器测试机，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：通过应用层，响应于获取到的测试指令，向驱动层发送电压控制指令；通过驱动层，响应于电压控制指令，控制开关矩阵单元导通第一连接；当DUT处于工作状态，通过应用层，向驱动层发送测试指令；通过驱动层，控制开关矩阵单元根据测试指令导通第二连接和或第三连接；通过应用层与驱动层的交互，基于第二连接对DUT进行图像测试，或者，基于第三连接对DUT进行电性测试。本申请实施例可以解决相关技术中利用通用ATE测试机搭配图像采集卡的组合方案测试CMOS图像传感器存在测试成本高的问题。

主权项：1.一种CMOS图像传感器测试方法，应用于CMOS图像传感器测试机，其特征在于，所述CMOS图像传感器测试机包括应用层、驱动层和开关矩阵单元，所述驱动层通过所述开关矩阵单元与待测器件（DUT）相连，所述方法包括：通过所述应用层，响应于获取到的测试指令，向所述驱动层发送电压控制指令；通过所述驱动层，响应于所述电压控制指令，控制所述开关矩阵单元导通第一连接，以基于所述第一连接向所述DUT输出电源电压使得所述DUT进入工作状态，所述第一连接是指所述驱动层与所述DUT的电源引脚之间的连接；当所述DUT处于所述工作状态，通过所述应用层，向所述驱动层发送所述测试指令；通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述测试指令导通第二连接和或第三连接，所述第二连接是指所述驱动层与所述DUT的图像输出引脚之间的连接，所述第三连接是指所述驱动层与所述DUT的输入输出引脚之间的连接；所述测试指令包括图像测试指令；所述通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述测试指令导通第二连接和或第三连接，包括：通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述图像测试指令导通所述第二连接，以通过所述应用层与所述驱动层的交互，基于所述第二连接对所述DUT进行图像测试；所述测试指令还包括DUT配置指令；所述通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述测试指令导通第二连接和或第三连接，包括：通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述DUT配置指令导通所述第三连接；所述通过所述应用层与所述驱动层的交互，基于所述第二连接对所述DUT进行图像测试之前，所述方法还包括：通过所述应用层与所述驱动层的交互，基于所述第三连接对所述DUT进行寄存器配置，使得所述DUT根据所配置的寄存器而输出相应的图像数据；所述测试指令包括电性测试指令；所述通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述测试指令导通第二连接和或第三连接，包括：通过所述驱动层，控制所述开关矩阵单元根据所述电性测试指令导通所述第三连接，以通过所述应用层与所述驱动层的交互，基于所述第三连接对所述DUT进行电性测试；通过所述应用层与所述驱动层的交互，基于所述第二连接对所述DUT进行图像测试，或者，基于所述第三连接对所述DUT进行电性测试。

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