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摘要：本发明公开了一种简易快速测量光斑尺寸的方法，其原理是将式I所示光稳定性相对较差的高荧光量子效率分子在二维基底上涂膜，通过待测光斑照射该高发光、易光漂白的荧光分子薄膜，利用被照射荧光分子的荧光淬灭现象在荧光显微镜下进行二次成像，实现对于光斑尺寸和光强分布的快速测量。
主权项：1.式I所示的化合物： 其中，R相同或不同，彼此独立地选自H，C1-12烷基，C1-12烷氧基，所述C1-12烷基和C1-12烷氧基任选被一个，两个或更多个如下基团所取代：卤素，OH，C1-12烷基，C1-12烷氧基；R1为非氢取代基，选自卤素、OH、C1-12烷氧基或C1-12烷基，所述C1-12烷氧基或C1-12烷基任选被一个，两个或更多个如下基团所取代：卤素、OH、C1-12烷氧基；所述非氢取代基R1的个数为0、1、2、3或4个；R2选自-C6-12芳基-5-12元杂芳基、-5-12元杂芳基-5-12元杂芳基、-C6-12芳基-C6-12芳基或-5-12元杂芳基-C6-12芳基；所述C6-12芳基和5-12元杂芳基任选被一个，两个或更多个如下基团所取代：卤素、OH、C1-12烷基、C1-12烷氧基；x+z为芴基或取代芴基的个数，为1、2、3、4、5、6、7、8、9或10；y为苯环或取代苯环的个数，为0、1、2、3、4、5、6、7、8、9或10。
权利要求：
百度查询： 中国科学院化学研究所 一种用于快速测量激发光光斑尺寸和光强分布的荧光分子及其制备方法
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