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光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品专利

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申请/专利权人:沐曦集成电路(上海)有限公司

申请日:2024-12-02

公开(公告)日:2024-12-31

公开(公告)号:CN119228625A

专利技术分类:.处理器架构; 处理器配置,例如 流水线[2006.01]

专利摘要:本申请涉及一种光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:首先,生成用于对目标光栅模块进行验证的测试数据,然后,将测试数据输出至目标光栅模块,以通过目标光栅模块生成第一图片,接着,将测试数据发送至包括合格的光栅模块的参考GPU,以通过参考GPU生成第二图片,最后,将第一图片与第二图片进行对比,得到目标光栅模块的功能验证结果。采用本方法能够不需要人工编写测试用例对目标光栅模块进行功能验证,避免了人为因素的影响,对光栅模块的验证的准确性更高,进一步地,通过自动进行对比得到验证结果,验证的效率更高。

专利权项:1.一种光栅模块验证方法,其特征在于,所述方法包括:生成测试数据,所述测试数据用于对目标光栅模块进行功能验证;将所述测试数据输出至目标光栅模块,以通过所述目标光栅模块生成第一图片;将所述测试数据发送至参考GPU,以通过所述参考GPU生成第二图片,所述参考GPU包括合格的光栅模块;将所述第一图片与所述第二图片进行对比,得到所述目标光栅模块的功能验证结果。

百度查询: 沐曦集成电路(上海)有限公司 光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品

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