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申请/专利权人：弗兰克·塞达

申请日：2022-05-20

公开（公告）日：2025-01-17

公开（公告）号：CN119325558A

专利技术分类：

专利摘要：本发明涉及一种用于探测具有流动介质40的器皿或管道之内的传感器表面3上的沉积物和或污染物情况的探测设备1，其中，探测设备1包括：‑探测区段25，该探测区段具有传感器表面3并且被设立成布置在器皿之内或管道之内并与流动介质40接触，‑导热基体2，该基体具有传感器表面3或与传感器表面处于直接接触，‑布置在基体2上的热源或冷源7，以用于在热源或冷源7与传感器表面3之间产生主热流量Q1，以及在热源或冷源7与参考表面21之间产生副热流量Q2，‑以距传感器表面3第一间距布置在基体2上的第一温度传感器4和以距传感器表面3第二间距布置在基体2上的第二温度传感器5，其中，第二间距大于第一间距，其中，借助温度传感器4，5能够确定温度差，‑导热包覆体19，该包覆体包覆基体2的布置在探测区段之外的部分，并具有参考表面21，其中，参考表面21是探测区段25的一部分，并且探测设备1包括外隔离部22，该外隔离部将包覆体19与其外部周围环境隔离开。

专利权项：1.一种用于探测具有流动介质40的器皿或管道之内的传感器表面3上的沉积物和或污染物情况的探测设备1，其中，所述探测设备1包括：-探测区段，所述探测区段具有传感器表面3并且被设立成布置在所述器皿之内或所述管道之内并与所述流动介质40接触，-导热基体2，所述基体具有所述传感器表面3或与所述传感器表面处于直接接触，-布置在所述基体2上的热源或冷源7，以用于在所述热源或冷源7与所述传感器表面3之间产生主热流量Q1，以及在所述热源或冷源7与参考表面21之间产生副热流量Q2，-以距所述传感器表面3第一间距布置在所述基体2上的第一温度传感器4和以距所述传感器表面3第二间距布置在所述基体2上的第二温度传感器5，其中，所述第二间距大于所述第一间距，其中，借助所述温度传感器4，5能够确定温度差，-导热包覆体19，所述包覆体包覆所述基体2的布置在所述探测区段之外的部分，并具有所述参考表面21，其特征在于，所述参考表面21是所述探测区段的一部分，并且所述探测设备1包括外隔离部22，所述外隔离部将所述包覆体19与其外部周围环境隔离开。

百度查询： 弗兰克·塞达 探测具有流动介质的器皿或管道之内的传感器表面上的沉积物和/或污染物情况