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申请/专利权人:芯恩(青岛)集成电路有限公司
申请日:2023-07-24
公开(公告)日:2025-01-28
公开(公告)号:CN119381244A
专利技术分类:.半导体器件或其部件的制造或处理[2006.01]
专利摘要:本发明提供了一种半导体器件及其制造方法,应用于半导体制造技术领域,该方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底上形成有多晶硅结构和位于所述多晶硅结构两侧的侧壁结构;在多晶硅结构和侧壁结构上形成材料为氮氧化硅的阻挡层,所述阻挡层覆盖多晶硅结构和所述侧壁结构,通过依次进行干法蚀刻和湿法蚀刻,去除所述多晶硅结构顶部的阻挡层,形成暴露所述多晶硅结构顶部的窗口,所述窗口的开口宽度小于或等于所述多晶硅结构的宽度;在所述窗口上形成自对准硅化物,所述自对准硅化物覆盖露出的所述多晶硅结构。该方法可以利用氮氧化硅材料的阻挡层保护氧化层,使得侧壁免于受到湿法蚀刻制程的蚀刻,避免造成鸟喙缺损。
专利权项:1.一种半导体器件的制造方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成有多晶硅结构和位于所述多晶硅结构两侧的侧壁结构;在所述多晶硅结构和侧壁结构上形成阻挡层,所述阻挡层覆盖所述多晶硅结构和所述侧壁结构,所述阻挡层的材料为氮氧化硅;依次进行干法蚀刻和湿法蚀刻,去除所述多晶硅结构顶部的阻挡层,形成暴露所述多晶硅结构顶部的窗口;所述窗口的开口宽度小于或等于所述多晶硅结构的宽度;在所述窗口上形成自对准硅化物,所述自对准硅化物覆盖露出的所述多晶硅结构。
百度查询: 芯恩(青岛)集成电路有限公司 一种半导体器件及其制造方法
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