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龙图腾网恭喜株式会社日本显示器申请的专利阵列基板的检查方法及显示装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113450685B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-09-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110309053.1，技术领域涉及：G09G3/00；该发明授权阵列基板的检查方法及显示装置是由武政健一;山田一幸;浅田圭介;矶野大树设计研发完成，并于2021-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本阵列基板的检查方法及显示装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，阵列基板具有与多个像素相对应地设置的多个晶体管、多个安装电极和多个检查端子，包括：准备未安装多个发光元件的阵列基板的步骤；将具有在多个像素的范围内延伸的支承部和沿支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个像素构成的像素行配置并使多个检查探头与沿第1方向排列的多个检查端子分别接触的步骤；以及通过多个检查治具对每个像素行检查电气特性的步骤。

本发明授权阵列基板的检查方法及显示装置在权利要求书中公布了：1.一种阵列基板的检查方法，该阵列基板安装多个发光元件，其特征在于，所述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与所述晶体管电连接、且供多个所述发光元件安装的多个安装电极；和与多个所述安装电极电连接的多个检查端子，所述阵列基板的检查方法包括：准备未安装多个所述发光元件的所述阵列基板的步骤；将具有在多个所述像素的范围内延伸的支承部和沿所述支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个所述像素构成的像素行配置、并使多个所述检查探头与沿所述第1方向排列的多个所述检查端子分别接触的步骤；以及通过多个所述检查治具对每个所述像素行检查电气特性的步骤。

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