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龙图腾网恭喜深圳市聚显达科技有限公司申请的专利一种LCD显示面板质量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119295450B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411815521.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种LCD显示面板质量检测方法是由吴裕勇;杨顺作设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种LCD显示面板质量检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种LCD显示面板质量检测方法，该方法包括：采集LCD屏幕图像；根据图像中各像素点的灰度值获得各像素点的邻域近似点的第二像素点序列；根据第二像素点序列之间的距离获得源点特征显著度，进而获得特征像素点及特征像素点的影响区域；根据影响区域内像素点以及第二像素点的数量获得影响区域权重；根据特征像素点的影响区域的各像素点的灰度值获得离散信息分布随机程度以及细节信息变化程度，结合影响区域权重和源点特征显著度获取各预设尺度的优选程度；根据优选程度进行显著性检测，获得缺陷的标注结果。本发明可实现对LCD显示面板的质量检测，提高检测精度。

本发明授权一种LCD显示面板质量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种LCD显示面板质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S10，采集LCD屏幕图像；步骤S20，根据LCD屏幕图像中各像素点的灰度值获得各像素点的邻域近似点；根据各像素点的邻域近似点与相邻像素点之间的灰度值差异，获取特征像素点；步骤S30，根据特征像素点的各邻域近似点邻域的灰度分布差异，获得CA显著性检测算法中各预设尺度的优选程度，所述各预设尺度的优选程度的获取包括：步骤S31，根据特征像素点的各邻域近似点邻域的灰度分布差异获得特征像素点的影响区域及影响区域权重；步骤S32，对LCD屏幕图像进行CA显著性检测，获得各预设尺度变化后的图像；步骤S33，根据特征像素点的影响区域内像素点在预设尺度变化后的图像中的灰度值，获得离散信息分布随机程度以及细节信息变化程度；步骤S34，根据所有特征像素点的影响区域权重、离散信息分布随机程度、细节信息变化程度，获取各预设尺度的优选程度；步骤S40，根据各预设尺度的优选程度获得Mura缺陷的标注结果；所述获取特征像素点，包括：对于像素点的各邻域近似点，根据邻域近似点与其八邻域像素点的灰度值差异，获得各邻域近似点的第二像素点序列；获取像素点的各邻域近似点的第二像素点序列的八连通链码；计算任意两个邻域近似点的所述八连通链码之间的动态时间规整距离；获取以自然常数为底数，所述动态时间规整距离的相反数为指数的指数函数；获取像素点的所有所述指数函数的计算结果的均值；统计像素点的预设邻域窗口内第二像素点的数量，将所述数量与所述邻域窗口中包含的像素点的数量的比值，记为像素点的邻域第二像素点密度；将像素点的邻域第二像素点密度与所述均值的乘积作为像素点的源点特征显著度；获取各像素点的源点特征显著度的归一化值，将所述归一化值大于预设源点特征显著度阈值的像素点作为特征像素点；所述获得各邻域近似点的第二像素点序列，包括：计算邻域近似点与其各个八邻域像素点的灰度值的差值绝对值，记为第一差值绝对值；将第一差值绝对值小于灰度差阈值，且最接近灰度差阈值的八邻域像素点，作为邻域近似点的第二像素点；对所述第二像素点的八邻域像素点，重复第二像素点选择操作，获得所述第二像素点的下一个第二像素点，直至所有所述第一差值绝对值大于或等于灰度差阈值，获得所有第二像素点所组成的邻域近似点的第二像素点序列。

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