恭喜美光科技公司H·R·桑吉迪获国家专利权
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龙图腾网恭喜美光科技公司申请的专利基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113571120B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110472020.9，技术领域涉及：G11C29/42；该发明授权基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样是由H·R·桑吉迪;A·马尔谢;V·P·拉亚普鲁;K·K·姆奇尔拉设计研发完成，并于2021-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样在说明书摘要公布了：本公开涉及基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样。以操作方式与存储器装置耦合的处理装置配置成对所述存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环PEC，其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定第一错误率。所述处理装置还基于所述第一错误率和第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式。所述处理装置接着比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与指示缺陷的错误率变化的预定型式。响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于所述错误率变化的预定型式，所述处理装置进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作。
本发明授权基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样在权利要求书中公布了：1.一种方法，其包括：当在存储器装置的数据单元上执行第一编程擦除循环时确定与所述数据单元的多个页中的第一组页相关联的第一错误率以及当在所述数据单元上执行第二编程擦除循环时确定与所述数据单元的所述多个页中的第二组页相关联的第二错误率；基于所述第一错误率以及所述第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式；以及响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于错误率变化的预定第二型式，进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作，其中与缺陷修复有关的所述动作包括以下中的至少一个：使所述数据单元引退或以比扫描所述存储器装置的其它数据单元的速率更高的速率扫描所述数据单元。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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