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恭喜株式会社日立高新技术西元琢真获国家专利权

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龙图腾网恭喜株式会社日立高新技术申请的专利质量分析装置以及质量分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115023787B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080094380.3,技术领域涉及:H01J49/10;该发明授权质量分析装置以及质量分析方法是由西元琢真;王子豪;古矢勇夫;任田浩;桥本雄一郎;杉山益之设计研发完成,并于2020-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

质量分析装置以及质量分析方法在说明书摘要公布了:在质量分析装置中,由于夹杂物堆积在框架内部等原因,耐电压降低,在离子源等中发生放电,由此有时无法进行正常的测定。基于放电的异常测定的结果无法和前处理部与针之间的管的堵塞等引起的测定异常进行区分,因此存在异常部位的确定需要时间,维护性降低的问题。作为其手段,设置串联连接在向针施加电压的离子源电源与框架之间的返回电流检测部和串联连接在向对置电极施加电压的对置电极电源与框架之间的返回电流检测部。通过将由返回电流检测部测定出的电流与预先决定的阈值进行比较,来检测放电的发生以及放电发生部位。

本发明授权质量分析装置以及质量分析方法在权利要求书中公布了:1.一种质量分析装置,其对试样进行分析,其特征在于,所述质量分析装置具有:框架,其是具有导电性的容器;离子源,其使所述试样离子化来生成离子化试样;检测器,其通过从所述离子化试样释放的电子来检测离子量;以及控制部,其显示由所述检测器测定出的离子量,所述离子源具有:针,其设置在所述框架内;电极,其在所述框架内与所述针分离地设置;第一电源,其向所述针施加第一电压;第二电源,其向所述电极施加第二电压;第一电流检测部,其串联连接在所述第一电源的地线与所述框架之间;以及第二电流检测部,其串联连接在所述第二电源的地线与所述框架之间,所述控制部基于由所述第一电流检测部以及所述第二电流检测部各自测定出的电流量,分别判断所述针与所述电极以外的离子源的构成物之间有无第一放电以及所述针与所述电极之间有无第二放电,所述控制部进行如下处理:在由所述第一电流检测部测定出的第一电流量的绝对值为第一阈值以上、且由所述第二电流检测部测定出的第二电流量的绝对值小于第二阈值时,判断为发生了所述第一放电;以及在所述第一电流量的绝对值为所述第一阈值以上、且所述第二电流量的绝对值为所述第二阈值以上时,判断为发生了所述第二放电。

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