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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119274635B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411783601.4，技术领域涉及：G11C29/42；该发明授权针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统是由赖俊生设计研发完成，并于2024-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种针对ondieECC存储器的深度评测方法、系统，针对ondieECC存储器的深度评测方法、系统，通过引入ECS记录存储器内部实际修复及错误的数量，具体的，通过开启和关闭ondieECC存储器的手动ECS模式对ondieECC存储器按照逐步加严的测试参数进行多轮次循环ECS测试以获取故障次数演进表，再将故障次数演进表与预先获取的ondieECC存储器的自然测试故障表进行对比以获取ondieECC存储器的测试参数余量、最大耐受故障数量，以及最大可耐受故障数量的剩余百分比，从而反映出ondieECC存储器的真实测评情况，避免因ECC自修复导致测试失真的情况，提高存储器测试的精准度和真实性。

本发明授权针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统在权利要求书中公布了：1.一种针对ondieECC存储器的深度评测方法，其特征在于，包括：通过开启和关闭ondieECC存储器的手动ECS模式对所述ondieECC存储器进行多轮次循环ECS测试以获取故障次数演进表；其中，每一轮测试的测试参数依次按照预设的梯度逐步加严；将所述故障次数演进表与预先获取的所述ondieECC存储器的自然测试故障表进行对比以获取所述ondieECC存储器的测试参数余量、最大耐受故障数量，以及最大可耐受故障数量的剩余百分比；其中，预先获取所述ondieECC存储器的自然测试故障表的步骤，包括：按照获取所述故障次数演进表时所使用的各个测试参数的顺序依次对所述ondieECC存储器进行多轮次的自然测试以获取自然测试故障表；其中，按照测试参数逐步加严的顺序，所述自然测试故障表中的自然测试故障数据与所述故障次数演进表中的故障发生次数一一对应；在每一轮自然测试的过程中获取自然测试故障数据的过程，包括：将本轮次自然测试对应的ECS测试所使用的背景资料写入至所述ondieECC存储器中进行测试以获取工艺缺失数据；将本轮次自然测试对应的ECS测试所使用的待测试资料写入至所述ondieECC存储器中分别进行写入和读取测试以获取写入故障数据和读取故障数据；将所述工艺缺失数据、所述写入故障数据和所述读取故障数据相加以获取自然测试故障数据；将所述故障次数演进表与预先获取的所述ondieECC存储器的自然测试故障表进行对比的步骤，包括：将按照预设的梯度逐步加严的测试参数作为横轴，将与所述测试参数对应的故障发生次数、自然测试故障数据作为与所述测试参数相对应的纵轴形，使所述故障次数演进表和所述自然测试故障表在横轴上进行重合，并以不同颜色区分所述故障次数演进表和所述自然测试故障表以形成颜色不同的复合柱状图作为对比图；获取所述ondieECC存储器的最大耐受故障数量的过程，包括：依次遍历所述对比图中的自然测试故障数据，锁定第一个自然测试故障数据大于零的柱状图作为初始ECC故障柱状图；将所述初始ECC故障柱状图所在的横坐标上的测试参数作为最大耐受故障数量；获取所述ondieECC存储器的测试参数余量的过程，包括；获取芯片供应商按照JEDEC或测试标准制定的标准测试参数值；将所述最大耐受故障数量减去所述标准测试参数值以获取测试参数余量；获取所述ondieECC存储器的最大耐受故障数量的剩余百分比的过程，包括：获取所述标准测试参数值所对应的故障发生次数作为初始故障发生次数；获取所述最大耐受故障数量所对应的故障发生次数作为最大耐受实际故障发生次数；将所述最大耐受实际故障发生次数作为分母，将所述最大耐受实际故障发生次数与所述初始故障发生次数的差值作为分子以获取最大耐受故障数量的剩余百分比。

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