恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所朱友强获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119205774B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411713869.0,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法是由朱友强;王鹍;刘欣悦;杨晨设计研发完成,并于2024-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法在说明书摘要公布了:本发明属于光子集成干涉成像技术领域,尤其涉及一种基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法。包括:S1:计算各配对基线的频率采样点;S2:计算重构图像的尺寸;S3:调整原始图像的尺寸;S4:基于步骤S1获得的各配对基线的频率采样点,生成频域掩模版;S5:利用频域掩模版对重构图像频谱进行更新;S6:对更新后的重构图像频谱进行傅里叶变换,获得重构图像;S7:计算重构图像的横向梯度与纵向梯度;S8:计算原始图像的横向梯度与纵向梯度;S9:计算重构图像和原始图像的梯度均方根误差;S10:基于梯度均方根误差对重构图像的像质进行评价。本发明为系统设计以及重构图像质量提供了有力指导。
本发明授权基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法在权利要求书中公布了:1.一种基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法,其特征在于:具体包括如下步骤:S1:根据光子集成干涉成像系统的基线配置及基线配对方式,计算各配对基线的频率采样点;S2:基于各配对基线的频率采样点,计算重构图像的尺寸(m,m);计算重构图像的尺寸m的公式为: ; ; ; ;其中,R为对数字向上取整,为所述光子集成干涉成像系统的最大频率与基频的比值,为所述光子集成干涉成像系统的最大频率,为所述光子集成干涉成像系统的基频,z为所述光子集成干涉成像系统的成像距离,Bmin为最短配对基线,Bmax为最长配对基线,为所述光子集成干涉成像系统的最小成像波长,为所述光子集成干涉成像系统的最大成像波长;S3:将原始图像的尺寸调整至(m,m);S4:基于步骤S1获得的各配对基线的频率采样点,生成频域掩模版;S5:对原始图像进行傅里叶变换,获得重构图像频谱,并利用频域掩模版对重构图像频谱进行更新;S6:对更新后的重构图像频谱进行傅里叶逆变换,获得重构图像;S7:计算重构图像的横向梯度与纵向梯度;S8:计算原始图像的横向梯度与纵向梯度;S9:计算重构图像和原始图像的梯度均方根误差;S10:基于梯度均方根误差对重构图像的像质进行评价。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。