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龙图腾网恭喜昂纳科技(深圳)集团股份有限公司申请的专利一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114490214B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111677926.0，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统是由杨成华设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统，包括SPI总线、IIC总线、IO扩展芯片、译码器和第一缓冲寄存器；SPI总线和IIC总线用于与老化测试设备连接，IO扩展芯片与IIC总线连接，译码器与IO扩展芯片连接，第一缓冲寄存器与译码器和SPI总线的CS端口连接，且用于与从设备的CS端口连接；其中，IIC总线控制IO扩展芯片和译码器产生用于切换从设备的使能信号，使能信号控制从设备选通；SPI总线与选通从设备通信。本发明的老化测试接口扩展模块电路原理简单，容易实现，硬件成本较低；只需要一路SPI和一路IIC控制总线即可，驱动能力强，多路带载后仍能保持高效稳定运转，可轻松实现SPI总线上达到上百个从设备挂载，拓展接口数量多；可拓展性强。

本发明授权一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种老化测试接口扩展模块，其特征在于，包括SPI总线、IIC总线、IO扩展芯片、译码器和第一缓冲寄存器；所述SPI总线和所述IIC总线用于与老化测试设备连接，所述IO扩展芯片与所述IIC总线连接，所述译码器与所述IO扩展芯片连接，所述第一缓冲寄存器与所述译码器和所述SPI总线的CS端口连接，且用于与从设备的CS端口连接；其中，所述IIC总线控制所述IO扩展芯片和所述译码器产生用于切换从设备的使能信号，所述使能信号控制从设备选通；所述SPI总线与选通从设备通信；所述第一缓冲寄存器包括第一输入端口、多个第一使能端口和多个第一输出端口；所述第一输入端口与所述SPI总线的CS端口连接；所述第一使能端口与所述译码器连接，以接收所述译码器的使能信号；所述第一输出端口用于与从设备的CS端口连接。

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