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龙图腾网恭喜西安理工大学申请的专利一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113640789B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110820856.3，技术领域涉及：G01S13/86；该发明授权一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法是由钱富才;杨越;晏琳;刘磊;谢国设计研发完成，并于2021-07-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法，具体为：首先，建立弹道参数的三阶差分模型，根据阈值原则识别出弹道参数中的异常参数与无异常参数；根据识别出的无异常参数建立弹道3次B样条模型；通过最小二乘法确定出模型中的样条系数估值并得到样条容错模型；再由异常参数以及样条容错模型得到异常参数的修正值；最后将异常参数修正值替代原弹道参数中的异常参数，更新弹道参数，得到准确的定位结果。通过对弹道参数中的异常数据进行处理，使得定位出的弹道参数更加接近真实值，更有利于对评估与改良制导系统精度及性能，可以避免因光‑雷异址定位方法的弹道参数不准确而带来的巨大利益损失。

本发明授权一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法在权利要求书中公布了：1.一种光电经纬仪与异址雷达联合弹道容错定位方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：步骤1、建立弹道参数的三阶差分模型，根据阈值原则识别出弹道参数中的异常参数与无异常参数；具体为：在X、Y或者Z方向的弹道参数中，{Ai}|i＝1，2，…，n是一个等间隔采样的弹道参数数据序列，其中n为数据长度，对{Ai}作3阶前向差分，得到三阶差分序列，如式1所示；Δ3Ai＝Δ2Ai+1-Δ2Ai1；式1中，Δ2Ai＝ΔAi+1-ΔAi，Δ2Ai+1＝ΔAii+2-ΔAi+1；ΔAi＝Ai+1-Ai，ΔAi+1＝Ai+2-Ai+1；在得到弹道参数的三阶差分序列{Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3之后，可得三阶差分序列的均方差σ，如式2所示； 式2中，m为数据的起始点，l为数据长度，σ为对应的均方差，如果σλ，λ为判断门限，将弹道参数中对应于该部分差分数据这一区域的弹道数据视为异常参数Aabnormal；如果σ≤λ，则将该部分弹道参数视为无异常参数Anormal，Anormal，λ是测量精度的3～5倍；为减少计算量，在三阶差分数据{Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3中任取一段30个点的数据即可计算出测量精度，如下式所示； 式中，δ为测量精度，m′为所取三阶差分数据的起始点，l′为数据长度；步骤2、根据步骤1识别出的无异常参数建立弹道3次B样条模型；具体过程如下：由步骤1得到的无异常弹道参数用分段3次B样条函数表示，如式3所示； 式3中，为无异常弹道参数，ti为弹道参数的采样时间，L为数据长度；p为分段数，αj为每一段的未知样条系数，j＝0，…，p；εi为无异常弹道参数的随机误差向量；T0、Tp分别为所处理弹道参数区间的两个时间端点，即Tp＝tL,T0＝t1，Tj为每一段弹道参数对应的时刻，并且Tj＝T0+jh；h为每个分段区间的时间长度， 为三阶标准B样条函数，令则有Bt如式4所示； 若令 并令ε＝[ε1，…，εL]T，则得到3次B样条模型，如式5所示；Anormal＝Tα+ε5；其中，步骤3、通过最小二乘法确定出步骤2模型中的样条系数估值并得到样条容错模型；具体过程如下：设随机误差向量ε在时间序列上独立同等方差σ2，由最小二乘法估计出样条系数估值如式6所示； 进一步得到样条容错模型式中，为待估数据序列，为待估数据序列的样条基函数，并且， N为待估数据序列的长度，P为样条分段数，h为每个分段区间的时间长度；步骤4、由步骤1中识别出的异常参数以及步骤3确定出的样条容错模型得到异常参数的修正值；具体为：由步骤3中的计算弹道参数中异常区域数据的样条基函数再由样条容错模型得到异常区域数据的修正值，如式7所示； 步骤5、将步骤4得到的异常参数修正值替代原弹道参数中的异常参数，更新弹道参数，得到准确的定位结果。

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