恭喜财团法人工业技术研究院张元泰获国家专利权
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龙图腾网恭喜财团法人工业技术研究院申请的专利微集成电路大规模测试获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114660434B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110226261.5,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权微集成电路大规模测试是由张元泰;黄立群设计研发完成,并于2021-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本微集成电路大规模测试在说明书摘要公布了:微集成电路大规模测试系统,包含:第一测试区,包含多个测试垫以及多个读取垫,设置于划线上;多个测试控制器逐行设置于划线上;探针,经配置接触第一测试区以测试多行集成电路芯片;每一个测试控制器经配置逐行测试对应的每一行集成电路芯片;其中,探针仅接触第一测试区一次;多个读取垫经配置逐行读取每一行集成电路芯片的测试结果。
本发明授权微集成电路大规模测试在权利要求书中公布了:1.一种微集成电路的大规模测试系统,适用于检测基板上多个框内的多个集成电路芯片,该系统包含:第一测试区,包含多个测试垫以及多个读取垫,设置于划线上;多个测试控制器,逐行设置于划线上;探针,经配置接触该第一测试区以测试多行集成电路芯片;每一该多个测试控制器经配置逐行测试该多行集成电路芯片中对应的一行集成电路芯片;其中,该探针仅接触该第一测试区一次;该多个读取垫经配置逐行读取每一该多行集成电路芯片的测试结果。
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