恭喜株式会社爱德万测试汐田夏基获国家专利权
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龙图腾网恭喜株式会社爱德万测试申请的专利电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113030598B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011230806.1,技术领域涉及:G01R29/10;该发明授权电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座是由汐田夏基;峯尾浩之设计研发完成,并于2020-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在说明书摘要公布了:本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置1具备能够与DUT10电连接的插座5、载板4以及测试器3,插座5具备:顶部插座60,其配置为与DUT10的上表面11a对置,能够与DUT10电连接;以及底部插座70,其与DUT10的下表面11b抵接,并且能够与顶部插座电连接,底部插座70具备:基部71,其与DUT10的下表面11b抵接;以及测试天线73,其与测试器3电连接,并且配置为与设备天线12对置。
本发明授权电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在权利要求书中公布了:1.一种电子部件测试装置,对被测试电子部件DUT进行测试,所述DUT具有设备天线和形成于第一主面的端子,所述电子部件测试装置具备:插座,其能够与所述DUT电连接;第一布线板;以及测试器,其具备装配有所述第一布线板的测试头,所述插座具备:第一插座,其配置为与所述第一主面对置,并能够与所述DUT电连接;以及第二插座,其安装于所述第一布线板,与所述DUT的所述第一主面的相反侧的第二主面抵接,并能够与所述第一插座电连接,所述第二插座具备:基部,其与所述DUT的所述第二主面抵接;测试天线,其与所述测试器电连接,并配置为与所述设备天线对置;以及第一衰减构件,其对从所述设备天线或所述测试天线辐射的电波进行衰减,所述设备天线包括设置于所述第二主面的第一设备天线,所述测试天线包括配置为与所述第一设备天线对置的第一测试天线,所述基部具有使所述第一测试天线与所述第一设备天线对置的第二开口,所述第一衰减构件含有能吸收毫米波的电波吸收材料,且介于所述测试天线与所述设备天线之间,并封闭所述第二开口,所述DUT的所述第二主面与所述第二插座的所述基部抵接,从而所述设备天线与所述测试天线的位置关系被设定为使来自所述设备天线的电波通过近场到达所述测试天线那样的位置关系,在所述DUT与所述第一插座电连接并且所述第一插座经由所述第二插座与所述测试头电连接的状态下,所述测试器通过在所述设备天线与所述测试天线之间收发电波来对所述DUT进行测试。
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