恭喜广东长兴半导体科技有限公司张治强获国家专利权
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龙图腾网恭喜广东长兴半导体科技有限公司申请的专利一种晶圆检测用的测试板结构及晶圆测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222719663U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202323412794.6，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种晶圆检测用的测试板结构及晶圆测试设备是由张治强;卢冠华;郭东林;黄坤设计研发完成，并于2023-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种晶圆检测用的测试板结构及晶圆测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种晶圆检测用的测试板结构及晶圆测试设备，包括测试板主体、感应部件和连接器，所述测试板主体上具有若干测试探针，若干所述测试探针形成测试区，所述测试板主体设置有可与外部测试设备连接的感应部件，所述感应部件具有多个感应端，所述感应端端部与所述测试探针端部平齐，多个所述感应端分别分布于所述测试区内的多侧位置，所述测试板测试时，所述感应端呈通电状态，所述感应部件可根据各个所述感应端的电路状态判定所述测试探针是否均与待测试产品抵接，并向所述外部测试设备发送信号反馈。本实用新型通过各个感应端与晶圆抵接后电路变化，判定测试探针是否均与晶圆抵接，保证对晶圆的测试精准度。
本实用新型一种晶圆检测用的测试板结构及晶圆测试设备在权利要求书中公布了：1.一种晶圆检测用的测试板结构，其特征在于，包括测试板主体、感应部件和连接器，所述测试板主体上具有若干测试探针，若干所述测试探针形成测试区，所述测试板主体设置有可与外部测试设备连接的感应部件，所述感应部件具有多个感应端，所述感应端端部与所述测试探针端部平齐，多个所述感应端分别分布于所述测试区内的多侧位置，所述测试板测试时，所述感应端呈通电状态，所述感应部件可根据各个所述感应端的电路状态判定所述测试探针是否均与待测试产品抵接，并向所述外部测试设备发送信号反馈。
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