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龙图腾网恭喜南京邮电大学;江苏鼎汇智能科技有限公司申请的专利一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114509611B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210141633.9，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试装置及方法是由于映;花磊;严静;李雁;蒋赟昱设计研发完成，并于2022-02-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明是一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试装置及方法，测试装置包括上基板、液晶层和下基板，辐射贴片印刷于上基板下方，金属地印刷于下基板上方，第一取向层旋涂于上基板下方，第二取向层旋涂于下基板上方，金属地、上基板、设置在金属地与辐射贴片之间的垫片和待测液晶构成液晶层，直流电压信号正负极分别加于辐射贴片及金属地上，用于给灌注在液晶层中的液晶加偏压。测试方法为准备包含带测量液晶的测试装置，将直流电压源正负极连接辐射贴片和金属地，将装置接入波导铜轴转换器，装置的上基板表面对应接入波导口。该测试装置应用于对液晶介电常数的测量中，结构简单且测量精度较高。

本发明授权一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于反射相位差测量液晶介电常数的测试方法，其特征在于：所述测试方法包括如下步骤：步骤1：准备包含带测量液晶的测试装置，将直流电压源正负极连接辐射贴片（2）和金属地（7），将测试装置接入波导铜轴转换器，测试装置的上基板（1）表面对应接入波导口，步骤2：使用矢量网络分析仪，将矢量网络分析仪的输入端接入步骤1中的所述波导铜轴转换器；步骤3：使直流电压源的电压数值调成0V，记录矢量网络分析仪屏幕上的所需频率反射相位值；步骤4：使直流电压源的电压数值调成大于或等于所测液晶的饱和电压值，记录矢量网络分析仪屏幕上的所需频率反射相位值；步骤5：使步骤3和步骤4的电压数值对应的反射相位值相减，得到此测试装置在所需频率下的反射相位差；步骤6：使所述直流电压源的电压数值调成在0V和饱和电压间得到所需频率的各个电压对应的反射相位，从而得到反射相位与电压变化曲线；步骤7：改变测试装置的辐射贴片（2）尺寸或结构，得到不同辐射贴片（2）的测试装置；步骤8：重复步骤1-6得到多组不同辐射贴片（2）的测试装置在相同所需频率下的反射相位差和对应的反射相位与电压变化曲线；步骤9：采用模拟仿真方法得到不同辐射贴片（2）的测试装置在相同所需频率下的液晶介电常数与反射相位曲线，再与测试得到的多组不同辐射贴片（2）的测试装置在相同所需频率下的反射相位差比较，找出满足所有反射相位差值的液晶介电常数与反射相位曲线段，找出曲线段对应的液晶介电常数最小值作为液晶短轴方向的介电常数，最大值对应的液晶介电常数作为液晶长轴方向的介电常数，由此能够确定待测液晶的介电常数最小值，则在0V和饱和电压间的各个电压对应的介电常数值也可根据反射相位差确定；其中步骤1中的测量装置测试装置，包括上基板（1）、液晶层（5）和下基板（8），辐射贴片（2）印刷于所述上基板（1）下方，金属地（7）印刷于所述下基板（8）上方，第一取向层（4）旋涂于所述上基板（1）下方，第二取向层（6）旋涂于所述下基板（8）上方，所述金属地（7）、所述上基板（1）、设置在所述金属地（7）与所述辐射贴片（2）之间的垫片（3）和待测液晶构成液晶层（5），直流电压信号正负极分别加于辐射贴片（2）及金属地（7）上，用于给灌注在所述液晶层（5）中的液晶加偏压。

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