恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司慕光获国家专利权
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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利芯片测试系统及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119575147B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510139074.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试系统及其测试方法是由慕光设计研发完成，并于2025-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试系统及其测试方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种芯片测试系统及其测试方法，测试系统包括：测试机、开关电路与偏置电源。本发明通过在待测芯片的对地参考端与测试系统的电源地之间引入偏置电源，提高待测芯片的对地参考端相对电源地的电位，以使测试机的接地端与待测芯片的对地参考端之间具有电压差，从而使得测试机无需负电压电源便可对待测芯片内的电子元件进行反向测试，降低测试机的成本。同时，测试机的接地端与待测芯片的对地参考端之间设有开关电路，通过控制开关电路的闭合和断开来控制待测芯片的对地参考端与接地端之间的电压差，从而使这种测试结构能满足接触测试和高速数据传输测试的不同需求。
本发明授权芯片测试系统及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：测试机，产生至少一组正反向测试信号并按照测试流程依次输出至待测芯片，以使待测芯片根据所述正反向测试信号执行测试程序并生成测试结果，所述测试机用于接收待测芯片反馈的测试结果，以检测待测芯片异常情况；所述测试机具有电连接电源地的接地端；开关电路，用于控制所述接地端与待测芯片的对地参考端之间的连接或断开；偏置电源，用于在所述接地端与待测芯片的对地参考端之间断开时，向待测芯片的对地参考端提供稳定的电压，以提高待测芯片的对地参考端相对电源地的电位。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人皇虎测试科技(深圳)有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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