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龙图腾网恭喜深圳市芯存科技有限公司申请的专利NAND FLASH寿命预测与管理方法及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119473169B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510055905.7，技术领域涉及：G06F3/06；该发明授权NAND FLASH寿命预测与管理方法及相关设备是由张波设计研发完成，并于2025-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本NAND FLASH寿命预测与管理方法及相关设备在说明书摘要公布了：本发明涉及闪存技术领域，公开了一种NANDFLASH寿命预测与管理方法及相关设备。该方法包括：通过对目标闪存的物理电气参数和环境错误参数进行多维采集和特征提取，并对获取的基础特征数据进行时序对齐和预处理，得到多模态参数数据；进而通过多层次特征提取和关联分析并构建多维度特征空间，并基于特征配对和融合分析，生成初始融合特征矩阵，并通过错误系数和性能衰退计算以及多PE循环尺度的性能预测，生成寿命预测结果，并基于性能状态参数进行阈值划分和偏差计算，以及裕度的加权计算和状态评估，得到安全运行裕度和健康状态评估结果；最后基于状态等级划分和参数映射，生成运行管理结果。实现了闪存寿命的高效精确预测与管理。

本发明授权NAND FLASH寿命预测与管理方法及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种NANDFLASH寿命预测与管理方法，其特征在于，所述NANDFLASH寿命预测与管理方法包括：获取目标NANDFLASH对应第一预测参数的第一多源原始参数数据和对应第二预测参数的第二多源原始参数数据，并对所述第一多源原始参数数据和所述第二多源原始参数数据进行时序对齐和多重预处理，得到第一多模态参数数据和第二多模态参数数据；分别对所述第一多模态参数数据和所述第二多模态参数数据进行多层次特征提取，得到第一参数特征向量和第二参数特征向量，并对所述第一参数特征向量和所述第二参数特征向量进行多种特征关联计算，得到所述目标NANDFLASH对应性能退化的多维度特征空间；对所述多维度特征空间中第一预测参数维度和第二参数预测维度对应的参数特征进行配对关联和特征组合，得到初始融合特征矩阵，并对所述初始融合特征矩阵进行NANDFLASH寿命衰减的错误系数计算和性能衰退计算，得到综合特征矩阵；基于所述综合特征矩阵，对所述目标NANDFLASH进行多PE循环尺度的性能预测和预测时序组合，生成寿命预测结果，并基于预设的NANDFLASH性能状态参数，对所述寿命预测结果进行阈值电压窗口的差值计算，得到电压稳定状态数据，并计算出所述电压稳定状态数据中各个状态间的重叠边界，得到电压裕度值；基于所述电压裕度值，对所述寿命预测结果进行电子陷阱积累的偏差计算，得到存储单元性能数据，并对所述存储单元性能数据进行失效状态的分布计算，得到可靠状态裕度值；基于所述可靠状态裕度值，对所述寿命预测结果进行块间磨损差异度与时序参数偏移量的比对计算，得到存储块磨损均匀度数据，并对所述存储块磨损均匀度数据进行块间磨损均匀度的阈值计算，得到初始状态裕度；基于所述NANDFLASH性能状态参数对应的性能状态参数关系式，对所述初始状态裕度进行加权计算，得到NANDFLASH安全运行裕度，并对所述NANDFLASH安全运行裕度进行多层级运行状态评估，得到所述目标NANDFLASH的健康状态评估结果；对所述健康状态评估结果进行阈值比对和等级划分，得到NANDFLASH的工作状态等级集合，并基于预设参数调整策略，对所述工作状态等级集合进行多管理参数的映射关联，生成所述目标NANDFLASH的运行管理结果。

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