买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜深圳市鹏博辉电子有限公司申请的专利一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119151939B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411649748.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法是由张桃春;杨明发;任俊设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法，涉及计算机视觉的技术领域，其包括对预处理PCB图像进行图像分割，得到多个预处理图像并记录图像分割方式；对预处理图像内的PCB电路板进行二次图像获取，得到预处理目标图像；得到每个预处理目标图像的缺陷特征集；得到目标缺陷特征集，根据目标缺陷特征集对目标图像进行缺陷标记，得到第一电路板缺陷；建立历史批次缺陷数据库，对目标图像进行二次缺陷比对，得到第二电路板缺陷；得到PCB电路板的缺陷点，并对缺陷点进行描述得到缺陷描述，根据缺陷描述生成缺陷处理方法。本申请具有提升PCB电路板的检测效率以及降低了误检或漏检的可能性的效果。

本发明授权一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于计算机视觉的PCB电路板缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取样板PCB电路板的预处理PCB图像以及样板批次号，对所述预处理PCB图像进行图像分割，得到多个预处理图像并记录图像分割方式；根据多个所述预处理图像，得到每个所述预处理图像的复杂度，并根据所述复杂度对所述预处理图像内的PCB电路板进行二次图像获取，得到预处理目标图像；对多个所述预处理目标图像进行缺陷分析，得到每个所述预处理目标图像的缺陷特征集，并根据所述样板批次号对每个缺陷特征集打上所述批次标记；获取PCB电路板的初始图像和批次号，根据所述图像分割方式对所述初始图像进行图像分割得到目标图像，结合所述目标图像以及所述批次号得到目标缺陷特征集，根据所述目标缺陷特征集对所述目标图像进行缺陷标记，得到第一电路板缺陷；获取PCB电路板的历史批次检测结果，并根据所述历史批次检测结果建立历史批次缺陷数据库，根据所述历史批次缺陷数据库对所述目标图像进行二次缺陷比对，得到第二电路板缺陷；结合所述第一电路板缺陷以及所述第二电路板缺陷得到PCB电路板的缺陷点，并对所述缺陷点进行描述得到缺陷描述，根据所述缺陷描述生成缺陷处理方法；根据多个所述预处理图像，得到每个所述预处理图像的复杂度的步骤，具体为：根据多个所述预处理图像，提取所述预处理图像中的元件数量、元件大小、元件造型以及电路走向；根据所述元件大小以及所述元件造型，得到每个元件对所述样板PCB电路板的底板的单体遮挡面积；根据所述单体遮挡面积以及所述元件数量，得到所述预处理图像中底板的遮挡面积以及遮挡位置；结合所述遮挡面积、所述遮挡位置以及所述电路走向，得到底板中被遮挡的隐藏电路段；根据所述元件数量、所述元件造型以及所述隐藏电路段，对所述预处理图像进行复杂评判，得到所述预处理图像的复杂度；根据所述复杂度对所述预处理图像内的PCB电路板进行二次图像获取，得到预处理目标图像的步骤，具体为：基于所述复杂度，分别得到所述预处理图像的遮挡区域以及可识别区域；基于所述遮挡区域，根据元件的所述元件大小以及所述元件造型，得到所述遮挡区域的拍摄角度；根据所述拍摄角度调用备用摄像头对所述遮挡区域进行二次图像获取，得到第一目标图像；基于所述可识别区域，得到所述可识别区域中单位面积内的画面颗粒数量，根据单位面积内的所述画面颗粒数量得到图像清晰度；判断所述图像清晰度是否能够满足预设的识别需求，若判断为所述图像清晰度不能满足所述识别需求，则对所述可识别区域进行二次图像获取，得到第二目标图像；若判断为所述图像清晰度能够满足所述识别需求，则将所述可识别区域的图像作为第二目标图像；结合所述第一目标图像以及所述第二目标图像，得到预处理目标图像；对多个所述预处理目标图像进行缺陷分析，得到每个所述预处理目标图像的缺陷特征集，并根据所述样板批次号对每个缺陷特征集打上所述批次标记的步骤，具体为：基于多个所述预处理目标图像，得到每个所述预处理目标图像的处理点和处理面；基于所述处理点，提取所述处理点的外形特征、颜色特征以及光线吸收特征；根据所述外形特征、所述颜色特征以及所述光线吸收特征得到所述处理点的点缺陷特征；基于所述处理面，提取所述处理面的光效特征、线条特征以及明暗特征；根据所述光效特征、线条特征以及明暗特征，得到所述处理面的面缺陷特征；结合所述点缺陷特征以及所述面缺陷特征得到预处理目标图像中的多个缺陷特征；获取当前生产过程中的工艺信息，根据所述工艺信息对所述缺陷特征进行筛选，得到缺陷特征集，并根据所述样板批次号对每个缺陷特征集打上所述批次标记。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市鹏博辉电子有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市宝安区沙井街道沙头社区民福路35-37号一层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。