恭喜深圳市立汇通信技术有限公司温玮获国家专利权
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龙图腾网恭喜深圳市立汇通信技术有限公司申请的专利一种光电子器件测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119622272B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510142992.X,技术领域涉及:G06F18/20;该发明授权一种光电子器件测试方法是由温玮;黄永浩设计研发完成,并于2025-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光电子器件测试方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种光电子器件测试方法,涉及光电子学领域,包括,采集历史测试数据,并为待测光电子器件设定初始环境参数,根据环境参数调整策略调整初始环境参数,并记录每个阶段调整后的环境参数的具体数值,基于记录的环境参数,对每个阶段的性能指标进行初步分析,得到光电子器件的初步识别结果,根据历史测试数据和光电子器件的初步识别结果,建立故障识别模型,得到光电子器件的故障模式;通过结合历史测试数据和初步识别结果建立故障识别模型,实现了对光电子器件故障模式的精准预测,为后续的具体部位检查提供了明确的方向。
本发明授权一种光电子器件测试方法在权利要求书中公布了:1.一种光电子器件测试方法,其特征在于:包括,采集历史测试数据,并为光电子器件设定初始环境参数;根据环境参数调整策略调整初始环境参数,并记录每个阶段调整后的环境参数的具体数值;基于记录的环境参数,对每个阶段的性能指标进行初步分析,得到光电子器件的初步识别结果;根据历史测试数据和光电子器件的初步识别结果,建立故障识别模型,得到光电子器件的故障模式;根据光电子器件的故障模式,进一步检查光电子器件故障的具体部位,并记录为故障检测报告;根据历史测试数据和光电子器件的初步识别结果,建立故障识别模型,得到光电子器件的故障模式,具体包括如下步骤,在同一时间戳里,从采集的历史测试数据中提取光电子器件环境参数的温度值、湿度值和电磁干扰强度值,并提取历史测试数据中光电子器件的性能指标值的响应频率、输出功率和误码率;将每个时间点提取的温度值、湿度值、电磁干扰强度值、响应频率、输出功率、误码率按顺序排列,直接拼接为器件特征向量;引入高斯滤波器对器件特征向量进行处理,得到高斯滤波后的器件特征向量;将每个时间点的初步识别结果拼接为初步识别结果向量;根据光电子器件的初步识别结果向量和高斯滤波后的器件特征向量,定义指数加权移动平均函数,得到综合特征向量,其表达式为: ;其中,表示时间点处的综合特征向量,表示指数加权系数,表示时间点处经过高斯滤波后的器件特征向量,表示时间点处的光电子器件识别结果向量,表示光电子器件初步识别结果向量的权重,表示时间点处的综合特征向量;基于综合特征向量,使用LSTM网络计算各个潜在故障模式的发生概率,并引入归一化指数函数将潜在故障模式的发生概率转换为故障模式的概率分布,其表达式为: ;其中,表示时间点处的故障模式概率分布,表示归一化指数函数,表示LSTM网络,表示权重矩阵,表示元素级乘法,表示时间窗口内每个时间点的索引,表示时间点处的综合特征向量,表示时间点处的初步识别结果向量;根据得到的故障模式概率分布,取故障概率最大的故障模式为光电子器件的故障模式。
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